СКРИПАЛЬ АНАТОЛИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ
Изобретатель СКРИПАЛЬ АНАТОЛИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ измерения распределения амплитуды колебаний объекта и устройство для его осуществления Способ измерения распределения амплитуды колебаний объекта и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a0bcc5ea54c2d685fc57e1129a940d7a.jpg)
Способ измерения распределения амплитуды колебаний объекта и устройство для его осуществления
Изобретение относится к измерительнор технике. Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса измерений за счет расположения вибропреобразователя на некоторо.м расстоянии от колеблющегося объекта и сканирования поверхности объекта лазерным лу-юм. Устройство , реализующее способ измерения распределения амплитуды колсбаниГ| объек7 ; с(н чиненных к(., ;ебаний и ;...
1308841![Способ измерения рельефа микрообъектов Способ измерения рельефа микрообъектов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/92cf2ef36a6a246739fc4f7ecfcf180a.jpg)
Способ измерения рельефа микрообъектов
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения размеров и рельефа микрообъектов. Цель изобретения - повышение точности измерения и информативности. Способ измерения рельефа микрообъектов заключается в том, что изображение микрообъекта 5, освещаемого лазерным источником 1 излучения,совмещают с масштабной сеткой в виде системы Ппоспоеть изоб...
1315800![Способ измерения радиуса кривизны сферических поверхностей объектов Способ измерения радиуса кривизны сферических поверхностей объектов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6292f6b59deb10d78a7a0d0e35ba6450.jpg)
Способ измерения радиуса кривизны сферических поверхностей объектов
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения радиуса кривизны сферических поверхностей различных объектов. Цель изобретения - расширение диапазона измеряемых значений до 50 мкм. Немонохроматическое излучение от источника 1 разделяют с помощью делителя 2 на два взаимно перпендикулярных пучка, освещают отраженным от делителя .2 пучком чере...
1411576![Способ определения глубины дефектов на поверхности объекта Способ определения глубины дефектов на поверхности объекта](/img/empty.gif)
Способ определения глубины дефектов на поверхности объекта
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения глубины раковин , треш,ин и других микродефектов на поверхности катодов. Цель изобретения - расширение диапазона измерения. Пучок лучей от источника 1 некогерентного света направляют на наклонную плоскопараллельную пластину 2, покрытую светоделительным слоем, и разделяют на два пучка, од...
1442817![Свч-устройство Свч-устройство](https://img.patentdb.ru/i/200x200/4c13fab2c7c43820966d5228cf6cbefe.jpg)
Свч-устройство
Изобретение относится к области радиотехники и м.б. использовано в радиоприемных и радиопередающих устройствах . Цель изобретения - .уменьшение амплитуды паразитной AM при воздействии механической вибрации звуковых частот. СВЧ-устройство содержит прямоугольную плату (П11) 1 с нанесенными на нее элементами 2 СВЧ- схемы. ПП 1 закреплена в корпусе, в котором в местах расположения вы...
1450073![Способ определения геометрических размеров микропроволоки Способ определения геометрических размеров микропроволоки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5e63f42768fea1ae8ee67958368a1823.jpg)
Способ определения геометрических размеров микропроволоки
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения геометрических параметров микропроволоки. Целью изобретения является повышение точности при расширении диапазона измеряемых размеров. В поле зрения оптического блока 5 наблюдают увеличенное изображение микропроволоки 1, затем включают звуковой генератор 4, возбуждают с помощью электровозбудите...
1732179![Устройство для наблюдения изображений Устройство для наблюдения изображений](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d806aac9b09541fcf028bb5f5d4eca83.jpg)
Устройство для наблюдения изображений
Изобретение относится к технике микроскопических измерений. Целью изобретения является одновременное наблюдение изображений одного или нескольких объектов под разными ракурсами. Для этого в устройство для наблюдения изображений введены прозрачная клиновидная пластинка 4, закрепленная в держателе с возможностью перемещения в плоскости, перпендикулярной оптической оси микроскопа ,...
1734067![Способ определения толщины пленки Способ определения толщины пленки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d2d488e1bf5db9a8699f2e1fdf4c63a7.jpg)
Способ определения толщины пленки
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля толщины тонких металлических пленок. Целью изобретения является повышение точности определения толщины металлической пленки, нанесенной на диэлектрическую подложку. Освещают контролируемую поверхность пучком излучения. Формируют интерференционную картину и определяют по ней величину изг...
1742612![Способ измерения тонких прозрачных и полупрозрачных слоев Способ измерения тонких прозрачных и полупрозрачных слоев](https://img.patentdb.ru/i/200x200/72f21ce36bbf6e7a6b4518b3c0938c94.jpg)
Способ измерения тонких прозрачных и полупрозрачных слоев
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения толщины тонких прозрачных и полупрозрачных слоев, нанесенных на диффузно-отражающие поверхности , в частности, при контроле толщины защитного слоя печатных плат. Целью изобретения является расширение области применения за счет обеспечения возможности измерения толщины слоев, нанесенных н...
1772627