PatentDB.ru — поиск по патентным документам

СКРИПАЛЬ АНАТОЛИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ

Изобретатель СКРИПАЛЬ АНАТОЛИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения распределения амплитуды колебаний объекта и устройство для его осуществления

Способ измерения распределения амплитуды колебаний объекта и устройство для его осуществления

  Изобретение относится к измерительнор технике. Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса измерений за счет расположения вибропреобразователя на некоторо.м расстоянии от колеблющегося объекта и сканирования поверхности объекта лазерным лу-юм. Устройство , реализующее способ измерения распределения амплитуды колсбаниГ| объек7 ; с(н чиненных к(., ;ебаний и ;...

1308841

Способ измерения рельефа микрообъектов

Способ измерения рельефа микрообъектов

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения размеров и рельефа микрообъектов. Цель изобретения - повышение точности измерения и информативности. Способ измерения рельефа микрообъектов заключается в том, что изображение микрообъекта 5, освещаемого лазерным источником 1 излучения,совмещают с масштабной сеткой в виде системы Ппоспоеть изоб...

1315800

Способ измерения радиуса кривизны сферических поверхностей объектов

Способ измерения радиуса кривизны сферических поверхностей объектов

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения радиуса кривизны сферических поверхностей различных объектов. Цель изобретения - расширение диапазона измеряемых значений до 50 мкм. Немонохроматическое излучение от источника 1 разделяют с помощью делителя 2 на два взаимно перпендикулярных пучка, освещают отраженным от делителя .2 пучком чере...

1411576

Способ определения глубины дефектов на поверхности объекта

Способ определения глубины дефектов на поверхности объекта

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения глубины раковин , треш,ин и других микродефектов на поверхности катодов. Цель изобретения - расширение диапазона измерения. Пучок лучей от источника 1 некогерентного света направляют на наклонную плоскопараллельную пластину 2, покрытую светоделительным слоем, и разделяют на два пучка, од...

1442817

Свч-устройство

Свч-устройство

  Изобретение относится к области радиотехники и м.б. использовано в радиоприемных и радиопередающих устройствах . Цель изобретения - .уменьшение амплитуды паразитной AM при воздействии механической вибрации звуковых частот. СВЧ-устройство содержит прямоугольную плату (П11) 1 с нанесенными на нее элементами 2 СВЧ- схемы. ПП 1 закреплена в корпусе, в котором в местах расположения вы...

1450073


Способ определения геометрических размеров микропроволоки

Способ определения геометрических размеров микропроволоки

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения геометрических параметров микропроволоки. Целью изобретения является повышение точности при расширении диапазона измеряемых размеров. В поле зрения оптического блока 5 наблюдают увеличенное изображение микропроволоки 1, затем включают звуковой генератор 4, возбуждают с помощью электровозбудите...

1732179

Устройство для наблюдения изображений

Устройство для наблюдения изображений

  Изобретение относится к технике микроскопических измерений. Целью изобретения является одновременное наблюдение изображений одного или нескольких объектов под разными ракурсами. Для этого в устройство для наблюдения изображений введены прозрачная клиновидная пластинка 4, закрепленная в держателе с возможностью перемещения в плоскости, перпендикулярной оптической оси микроскопа ,...

1734067

Способ определения толщины пленки

Способ определения толщины пленки

  Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля толщины тонких металлических пленок. Целью изобретения является повышение точности определения толщины металлической пленки, нанесенной на диэлектрическую подложку. Освещают контролируемую поверхность пучком излучения. Формируют интерференционную картину и определяют по ней величину изг...

1742612

Способ измерения тонких прозрачных и полупрозрачных слоев

Способ измерения тонких прозрачных и полупрозрачных слоев

  Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения толщины тонких прозрачных и полупрозрачных слоев, нанесенных на диффузно-отражающие поверхности , в частности, при контроле толщины защитного слоя печатных плат. Целью изобретения является расширение области применения за счет обеспечения возможности измерения толщины слоев, нанесенных н...

1772627