КОВАЛЕВ АНАТОЛИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ

  Изобретение относится к области магнитной микроэлектроники и может быть использовано для контроля качества и однородности доменосодержащих монокристаллических эпитаксиальных пленок. Целью изобретения является упрощение способа и повышение его быстродействия. Способ выявления дефектов заключается в следующем . На локальный участок размагниченной пленки воздействуют импульсом магни...

  Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может найти применение в автоматизированных системах контроля эпитаксиальных феррит-гранатовых цленок (ЭФГП). Целью изобретения является упрогцение способа выявление дефектов при автоматизированном контроле ЭФГП. Способ заключается в том, что на участок пленки, имеющий в начальном состоянии лабиринтную доменную структу...

  Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения величины коэффициента преломления прозрачных диэлектрических и полупроводниковых пленок. Цель изобретения - повышение точности измерений . На поверхность исследуемой пленки подают пучок света, поляризованного в плоскости его падения. Устанавливают угол падения пучка света большим (или меньшим) угла Ерюсте...

  Изобретение относится к области магнитной микроэлектроники и может быть использовано для неразрушающего контроля доменосодержащих эпитаксиальных феррит-гранатовых пленок при изготовлении доменных запоминающих устройств. Целью изобретения является повышение чувствительности способа обнаружения дефектов. Способ включает воздействие на эпитаксиальную пленку импульсным неоднородным ма...