КОЙФМАН АЛЕКСАНДР ЛЬВОВИЧ
Изобретатель КОЙФМАН АЛЕКСАНДР ЛЬВОВИЧ является автором следующих патентов:
![Автоматический микродозатор газа непрерывного действия Автоматический микродозатор газа непрерывного действия](https://img.patentdb.ru/i/200x200/87da99fb8c12de288ddc5d59d3aa48f1.jpg)
Автоматический микродозатор газа непрерывного действия
Изобретение относится к дозирующим устройствам непрерывного действия и может быть использовано для микродозирования газообразных веществ в химической и других отраслях промышленности . Цель изобретения - повыщение качества регулирования путем увеличения быстродействия и устойчивости . Для этого автоматический микродозатор газа непрерывного действия содержит расходомер 1, установл...
1339505![Регулятор температуры Регулятор температуры](https://img.patentdb.ru/i/200x200/71022c14d021e007f4e6ead9af6d0df3.jpg)
Регулятор температуры
Изобретение относится к манометрическим регуляторам температуры и может найти применение в технологических процессах, где требуется поддержание определенной температуры. Цель изобретения - повышение точности регулирования, надежности и технологичности конструкции. Регулятор температуры содержит цилиндрический корпус 1, входной 2, выходной 3 патрубки для подачи теплоносителя, обойм...
1506439![Устройство для программного регулирования Устройство для программного регулирования](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a06543724bf7c1cc1c5410643ce68b9a.jpg)
Устройство для программного регулирования
Изобретение относится к технике автоматического программного регулирования, в частности регулирования температуры. Цель изобретения - повышение точности устройства. Устройство для программного регулирования содержит генератор 1 импульсов, делитель 2 частоты, RS-триггер 3, элемент И 4, цифроаналоговый преобразователь (ЦАП) 5, блок 6 измерения параметра, элемент 7 сравнения, регулир...
1674086![Устройство для измерения геометрических параметров полупроводниковых пластин Устройство для измерения геометрических параметров полупроводниковых пластин](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b8d748b4b8989face556ba4195365d81.jpg)
Устройство для измерения геометрических параметров полупроводниковых пластин
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин. Цель изобретения - повышение точности, расширение диапазона измерений и обеспечение неразрушающих измерений при контроле толщины. Измеритель содержит датчик касания, привод датчика касания, генератор тактовых импульсов, коммутатор сигналов кали...
1763873