ГАВРИЛЮК ВАЛЕРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ

  Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля неплоскостности и толщины полупроводниковых и диэлектрических пластин. Целью изобретения является повышение точности измерения при контроле неплоскостности и толщины плас9 8 тин. Указанная цель достигается тем, что щупы 8 базовых датчиков 3, на которых располагается контролируемая пласт...

  Изобретение относится к механической обработке твердых хрупких неметаллических материалов, а именно для разделения полупроводниковых материалов на пластины на станках многолезвийной резки, и может быть использовано в электронной промышленности. Целью изобретения является повышение производительности. Устройство содержит шарнирный параллелограмм 8, позволяющий подавать монокристалл...

  Изобретение относится к механической обработке твердых и хрупких материалов и может быть использовано при разделении полупроводниковых и диэлектрических монокристаллов на пластины. Цель изобретения - повышение качества отрезаемых пластин. Способ заключается в том, что монокристаллу сообщают колебания вдоль оси, перпендикулярной направлению скорости поперечной подачи. Частоту и ам...