ШИЛАК АНАТОЛИЙ КОНСТАНТИНОВИЧ

  Изобретение относится к дефектометрии и может быть использовано для регистрации магнитных полей рассеяния . Изобретение позволяет повысить информативность неразрушающего контроля изделий при измерении геометрических параметров дефектов. Это достигается путем сканирования поверхности контролируемого объекта магниточувствительным элементом. Устройство для регистрации магнитных поле...