PatentDB.ru — поиск по патентным документам

МИХАЙЛИВ ЕВГЕНИЙ ИВАНОВИЧ

Изобретатель МИХАЙЛИВ ЕВГЕНИЙ ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения кривизны внутренней поверхности экрана кинескопа

Способ измерения кривизны внутренней поверхности экрана кинескопа

  Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при производстве экранов кинескопов для измерения их внутренней поверхности. Целью изобретения является повьииение точности и удобства измерений. При способе измерений кривизны внутренней повер.хности экрана кинескопа используют измерительную установку сизмерительным преобразователем с радиусом поворота R + 6,. Изме...

1415031

Устройство для измерения отклонения формы внутренних сферических поверхностей

Устройство для измерения отклонения формы внутренних сферических поверхностей

  Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности и сокращение времени измерения. Устройство снабжено полой штангой 14 с пневматическим наконечником 16 и узлом качания штанги 14 с копиром 12, взаимодействующим со штангой 14, и стаканом 11 с прорезями на стенке. Внутри штанги 14 установлен преобразователь линейных перемещений, соединенный с наконе...

1522020