КРУПОТКИН МИХАИЛ ЯНОВИЧ

  Изобретение относится к устройствам для определения параметров кристаллической решетки, используе мых при рентгеноструктурном анализе твердых тел в магнитном поле. Цель изобретения - повышение точности измерения параметров кристаллической решетки твердых тел за счет увеличения допустимых углов,дифракции при азимутальном вращении магнитного поля относительно горизонтальной оси, пе...