Устройство для определения параметров кристаллической решетки твердых тел

Устройство для определения параметров кристаллической решетки твердых тел

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к устройствам для определения параметров кристаллической решетки, используе мых при рентгеноструктурном анализе твердых тел в магнитном поле. Цель изобретения - повышение точности измерения параметров кристаллической решетки твердых тел за счет увеличения допустимых углов,дифракции при азимутальном вращении магнитного поля относительно горизонтальной оси, перпендикулярной отражающей поверхности образца. Устройство содержит С- образньш сердечник 1 с обмотками 2, подсоединенными к блоку питания, и держатель образца 3, помещаемый в отверстие, выполненное в центральной части сердечника. Поворот магнита относительно образца осуществляет.ся прижимной планкой 4 и посадочным кольцом 5 с отверстиями по периметру, закрепленным на гониометре рентгеновского дифрактометра. 1 ил. а О

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (5g q G 01 N 23/20

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4022787/31-25 (22) 17, 12. 85 (46) 15.10.88. Бюл. Ф 38 (71) Харьковский государственный университет им. А.M. Горького (72) В.В. Воробьев, М.Я.. Крупоткин и В.А. Финкель (53) 621.386(088.8) (56) Atoj i M. Multipurpose neutrondiffraction instrumentations.-Nuc1.

Instr. Methods. V. 35, 9 1, 1965, 13-33.

Jones Е. J., Tanner В.К. А double

axis Х-ray.diffractometer for magnetostriction measurements.-3. Phys.

Е: Sci. Instrument, 1980, V. 13, N - 11, 1183-1188. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ (57) Изобретение относится к устройствам для определения параметров кристаллической решетки, используе- . мых при рентгеноструктурном анализе твердых тел в магнитном поле. Цель изобретения — повышение точности измерения параметров кристаллической решетки твердых тел за счет увеличения допустимых углов.дифракции при азимутальном вращении магнитного поля относительно горизонтальной оси, перпендикулярной отражающей поверхности образца. Устройство содержит Собразный сердечник 1 с обмотками 2, подсоединенными к блоку питания, и держатель образца 3, помещаемый в отверстие, выполненное в центральной части сердечника. Поворот магнита относительно образца осуществляется прижимной планкой 4 и посадочным кольцом 5 с отверстиями по периметру, за-, / крепленным на гониометре рентгеновского диФрактометра. 1 ил.

l 430841

Параметры кристаллической решетки определялись с относительной точностью не хуже 2 10 А.

Формула из о бре тения

Составитель О. Алешко-,Ожевский

Редактор Н. Киштулинец Техред N.Äèäûê Корректор О. Кравцова

Заказ 5336!45 Тираж 847 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к физике твердого тела, в частности к устройствам для определения параметров кристаллической решетки, используемых 5 при рентгеноструктурном анализе твердых тел в магнитном поле. .Цель изобретения — увеличение точности определения параметров кристаллической решетки образца за счет уве- 10 лияения допустимых углов дифракции при вращении магнитного поля относительно горизонтальной оси, перпендикулярной отражающей поверхности образца.. 15

На чертеже изображена конструкция устройств а.

Устрой с тво содержит С-о бр аз ный сердечник 1 с обмотками 2, подсоединенными к блоку питания„20 образца 3, помещаемый в отверстие, выполненное в центральной части сердечника 1, прижимную планку 4, фиксирующую магнит относительно образца и жестко соединенную с сердечником 25

1, посадочное кольцо 5, закрепленное на гониометре дифрактометра.

Устройство работает следующим образом.

В центральное отверстие посадоч- 30 ного кольца 5 вставляется цанговый держатель с образцом 3, прикрепленным к держателю. Затем к посадочному кольцу с помощью винтов прикрепляется планка с магнитом. Положение магнита. относительно образца изменяется поворотом планки в определенное положе= ние.

С-образный сердечник выполнен из армкожелеза (с зазором между полюсами 7 мм). Симметричные обмотки выполнены из медной проволоки типа ПЭВТЛ0,3 мм.

Планка и посадочное кольцо выполнены из латуни. По периметру кольца о сделаны отверстия через каждые 15

Цанговый держатель также выполнен из латуни. Описанное выше приспособление помещалось на гониометр дифрактометра ДРОН вЂ” 2,0.

С помощью этого устройства проведено исследование монокристаллов D в магнитных полях с однородностью в рабочей зоне не хуже 10 Э.

Поле определялось с точностью до

5 Э и плавно варьировалось от 0 до 1 кЭ.

Устройство для определения, параметров кристаллической решетки твердых тел, включающее рентгеновский дифрактометр с электромагнитом С-образной формы, выполненного с возможностью поворота относительно образца, и держателем образца, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью увеличения точности определения пара" метров кристаллической решетки образца эа счет увеличения допустимых углов дифракции при вращении магнитного поля относительно горизонтальной оси, перпендикулярной отражающей поверхности образца, электромагнит укреплен на держателе с возможностью независимого от образца поворота вокруг, упомянутой горизонтальной оси и установлен так, что. его полюса не выходят за плоскость отражающей поверхности образца.