ТАТАРНИКОВ АЛЕКСЕЙ НИКОЛАЕВИЧ

  Изобретение относится к неразрутающему контролю и может быть использовано для измерения толщины двухслойных электропроводяпцпс объектов. Цель изобретения - измерение толщины каждого из слоев тонких двухслойных неферромагнитных электропроводящих объектов, один из слоев которого по сравнению с другим - слабопроводящий, достигается путем измерения затухания электромагнитного поля с...