Способ электромагнитного измерения толщины покрытий

Способ электромагнитного измерения толщины покрытий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к неразрутающему контролю и может быть использовано для измерения толщины двухслойных электропроводяпцпс объектов. Цель изобретения - измерение толщины каждого из слоев тонких двухслойных неферромагнитных электропроводящих объектов, один из слоев которого по сравнению с другим - слабопроводящий, достигается путем измерения затухания электромагнитного поля с помощью разомкнутой магнитной цепи с контролируемым объектом в воздушном промежутке . На контролируемом участке размещают электромагнитный преобразователь с П-образным магнитопроводом. С противоположной стороны контролируемого участка устанавливают ферромагнитное тело и замыкают им магнитную цепь магнитопровода. По измеренному магнитному сопротивлению R в системе ферромагнитное тело - магнитопровод определяют суммарную толщину Т слоев. Изменяют по периодическому низкочастотному закону зазор h мевду ферромагнитным телом и поверхностью контролируемого объекта, одновременно плаэно увеличивают частоту тока, питающего электромагнитный преобразователь, фиксируют граничную частоту f,.при которой выходной сигнал преобразователя не зависит от вариации зазора h, и по нему с помощью градуировочной кривой определяют толщину ji слоя с большей удельной электрической проводимостью. 2 ил.

ССНОЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (5y) 4 С 01 В 7/06

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

И ASTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3992444/25-28 (22) 02.10.85 (46) 30.10.88. Бюл. Ф 40 (71) Оренбургский политехнический институт (72) И.Н. Антонов, В.Н. Дегтярев, 10.P. Владов и А.Н. Татарников (53) 620.179.14(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 1155844, кл. G 01 В 7/06, 1985.

Неразрушающий контроль металлов и иэделий: Справочник/Под ред.

Г.С.Самойловича. -N.: Машинострое, ние, 1976, с. 197-201. (54) СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЙ -(57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может бйть использовано для измерения толщины двухслойных электропроводящих объектов.

Цель изобретения — измерение толщины каждого из слоев тонких двухслойных неферромагнитных электропроводящих объектов, один иэ слоев которого по сравнению с другим — слабопроводящий, достигается путем измерения затуха„„SU„„3434238 А 1 ния электромагнитного поля с помощью разомкнутой магнитной цепи с контролируемым объектом в воздушном промежутке. На контролируемом участке размещают электромагнитный преобразователь с П-образным магнитопроводом. С противоположной стороны контролируемого участка устанавливают ферромагнитное тело и замыкают им магнитную цепь магнитопровода. По измеренному магнитному сопротивлению R в системе ферромагнитное тело - магнитопровод определяют суммарную толщину Т слоев. Иэменяюч по периодическому. низкочастотному закону зазор h между ферромагнитным те- е лом и поверхностью контролируемого объекта, одновременно плавно увеличи- %фФ вают частоту тока, питающего электро- ( магнитный преобразователь, фиксируют граничную частоту f,,при которой 2 выходной сигнал преобразователя не зависит от вариации зазора h и по нему с помощью градуировочнай кривой определяют толщину,У слоя с большей удельной электрической проводимостью. 144

2 ил. Ь4

1434238 1 МОЯ Рии 4Ун1 05мкм0, К

Фие. f

Тплщона лодтжки d„

Составитель П.Шкатов

Техред Л.Сердюкова. Корректор И.Муска

Редактор Л.Пчолинская

Заказ 5542/41 Тираж 680 Подписное

BIIHHIIH Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

I)3035, NocKBa, Ж-35, Раушская наб., д. 4!5

Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4