PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ДЕГТЯРЕВ ВЯЧЕСЛАВ НИКОЛАЕВИЧ

Изобретатель ДЕГТЯРЕВ ВЯЧЕСЛАВ НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения шероховатости поверхности изделия

Способ определения шероховатости поверхности изделия

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в частности, для определения шероховатости поверхности движущихся .изделий с относительно малым по сравнению с длиной поперечным размером и выпукло-криволинейным или замкнутым профилем. Цель изобретения - расширение номенклатуры проверяемых изделий за счет определения шероховатости выпуклой криволинейной по...

1322089

Способ определения шероховатости боковых поверхностей изделия

Способ определения шероховатости боковых поверхностей изделия

  СОЮЗ СО8ЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (51) 4 G О1 В 11/30 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К Д ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ. КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4070068/24-28 (22) 23.05.86 (46) 07. 11.87. Бюл. № 41 (75) И.Н,Антонов, В.Н.Дегтярев, Ю.Р,Владов и P.Т.Абдрашитов (53) 531. 715. 27 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР ¹ 1024708, кл. С 01 В...

1350492

Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия

Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества металли .-еских покрытий на технических изделиях в процессе их нанесения. Цель изобретения - возможность контроля изделия с двух противоположных поверхностей изделия в процессе его движения. Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия содержит лазер 1, зеркало 2...

1357705

Способ электромагнитного измерения толщины покрытий

Способ электромагнитного измерения толщины покрытий

  Изобретение относится к неразрутающему контролю и может быть использовано для измерения толщины двухслойных электропроводяпцпс объектов. Цель изобретения - измерение толщины каждого из слоев тонких двухслойных неферромагнитных электропроводящих объектов, один из слоев которого по сравнению с другим - слабопроводящий, достигается путем измерения затухания электромагнитного поля с...

1434238

Устройство для измерения толщины покрытия на изделиях

Устройство для измерения толщины покрытия на изделиях

  Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности измерения и расширение номенклатуры контролируемых изделий. Это достигается тем, что устройство снабжено цилиндрической направляющей 3, зажимным узлом, выполненным в виде установленного в направляющей 3 стакана 6 и расположенной на термоигле 9 термопарой 19, а также за счет выполнения наконечника...

1511578


Способ определения толщины покрытия тонкостенного изделия

Способ определения толщины покрытия тонкостенного изделия

  Изобретение относится к измерительной технике, в частности к способам определения толщины пленочных покрытий тонкостенных изделий. Цель изобретения - повышение точности. Способ заключается в том, что изделие с покрытием нагревают, измеряют температуру нагрева, затем поверхность покрытия охлаждают в условиях постоянного теплообмена и вновь измеряют температуру поверхности покрытия....

1562690