ДЕГТЯРЕВ ВЯЧЕСЛАВ НИКОЛАЕВИЧ
Изобретатель ДЕГТЯРЕВ ВЯЧЕСЛАВ НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ определения шероховатости поверхности изделия Способ определения шероховатости поверхности изделия](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c0f914217b4e2c67332ce23739372626.jpg)
Способ определения шероховатости поверхности изделия
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в частности, для определения шероховатости поверхности движущихся .изделий с относительно малым по сравнению с длиной поперечным размером и выпукло-криволинейным или замкнутым профилем. Цель изобретения - расширение номенклатуры проверяемых изделий за счет определения шероховатости выпуклой криволинейной по...
1322089![Способ определения шероховатости боковых поверхностей изделия Способ определения шероховатости боковых поверхностей изделия](https://img.patentdb.ru/i/200x200/bb36ff5c780d3bde62549935ae554ee9.jpg)
Способ определения шероховатости боковых поверхностей изделия
СОЮЗ СО8ЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (51) 4 G О1 В 11/30 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К Д ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ. КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4070068/24-28 (22) 23.05.86 (46) 07. 11.87. Бюл. № 41 (75) И.Н,Антонов, В.Н.Дегтярев, Ю.Р,Владов и P.Т.Абдрашитов (53) 531. 715. 27 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР ¹ 1024708, кл. С 01 В...
1350492![Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3b5868561bd0f560a7405050af2d5bbc.jpg)
Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества металли .-еских покрытий на технических изделиях в процессе их нанесения. Цель изобретения - возможность контроля изделия с двух противоположных поверхностей изделия в процессе его движения. Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия содержит лазер 1, зеркало 2...
1357705![Способ электромагнитного измерения толщины покрытий Способ электромагнитного измерения толщины покрытий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/20f3f64565d4e1a24a8b7f0dab7655af.jpg)
Способ электромагнитного измерения толщины покрытий
Изобретение относится к неразрутающему контролю и может быть использовано для измерения толщины двухслойных электропроводяпцпс объектов. Цель изобретения - измерение толщины каждого из слоев тонких двухслойных неферромагнитных электропроводящих объектов, один из слоев которого по сравнению с другим - слабопроводящий, достигается путем измерения затухания электромагнитного поля с...
1434238![Устройство для измерения толщины покрытия на изделиях Устройство для измерения толщины покрытия на изделиях](https://img.patentdb.ru/i/200x200/53f63e29ee60ac459de00f73595fbfd7.jpg)
Устройство для измерения толщины покрытия на изделиях
Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности измерения и расширение номенклатуры контролируемых изделий. Это достигается тем, что устройство снабжено цилиндрической направляющей 3, зажимным узлом, выполненным в виде установленного в направляющей 3 стакана 6 и расположенной на термоигле 9 термопарой 19, а также за счет выполнения наконечника...
1511578![Способ определения толщины покрытия тонкостенного изделия Способ определения толщины покрытия тонкостенного изделия](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6db639efd0bc542b49904c24ffb256d2.jpg)
Способ определения толщины покрытия тонкостенного изделия
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к способам определения толщины пленочных покрытий тонкостенных изделий. Цель изобретения - повышение точности. Способ заключается в том, что изделие с покрытием нагревают, измеряют температуру нагрева, затем поверхность покрытия охлаждают в условиях постоянного теплообмена и вновь измеряют температуру поверхности покрытия....
1562690