Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия

Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества металли .-еских покрытий на технических изделиях в процессе их нанесения. Цель изобретения - возможность контроля изделия с двух противоположных поверхностей изделия в процессе его движения. Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия содержит лазер 1, зеркало 2, направляющие зеркала 3 и 4, отражающие луч на контролируемые поверхности а , Ь изделия 11, эталонные зеркала 5 и 6, способствующие многократному отражению луча от поверхностей а , Ъ , вращающиеся поляроиды 7 и 8, которые служат для выявления степени поляризации отраженЕЮй диффузной составляющей луча, и фотоприемники 9 и 10, расположенные непосредственно за поляроидами 7 и 8 и преобразующие световой поток в электрический сигнал, зависящий от степени деполяризации многократно отраженных ;от контролируемьгх поверхностей а , Ь лучей. 1 ил. (Л 00 ел о СП

СО)ОЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (!1) (gg) 4 G 01 В 11/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4061938/24-28 (22) 18.03.86 (46) 07.12.87. Вюл. Р 45 (75) И.H. Антонов, В.Н, Дегтярев и Ю.P. Владов (53) 531,715.27(088.8) (56) Патент CUIA Ф 3771880, кл. С 01 В 21/48, 1973.

Авторское свидетельство СССР

У 1046611, кл. С 01 В 11/30, 1982. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ОТРАЖАЮЦ1ИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ

ИЗДЕЛИЯ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества металли;еских покрытий на технических иэделиях в процессе их нанесения.

Цель изобретения — возможность контроля изделия с двух противоположных поверхностей изделия в процессе его движения. Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия содержит лазер 1, зеркало 2, направляющие зеркала 3 и 4, отражающие луч на контролируемые поверхности а, Ь изделия 11, эталонные зеркала 5 и 6, способствующие многократному отражению луча от поверхностей а, Ь, вращающиеся поляроиды 7 и 8, которые служат для выявления степени поляризации отраженной диффузной составляющей луча, и фотоприемники 9 и 10, расположенные непосредственно за поляроидами

7 и 8 и преобразующие световой поток в электрический сигнал, зависящий от степени деполяризации многократно отраженных от контролируемых поверхностей а, Ь лучей. 1 ил, 1357705

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества металлических покрытий на технических изделиях в процессе их нанесения.

Цель изобретения — возможность контроля изделия с двух противоположных поверхностей изделия в процессе его движения.

На чертеже изображена принципиальная схема устройства для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия.

Устройство содержит лазер 1, плоское зеркало 2, обеспечивающее сканирование луча по двум отражающим зеркалам 3 и 4, эталонные зеркала 5 и 6, поляроиды 7 и 8, фотоприемники 9 и 10.

Устройство работает следующим образом.

Перемещают контролируемое иэделие

11 в виде плоской ленты или трубки в направлении, перцендикулярном плоскости чертежа.

Поляризованный луч света от лазера 1 попадает на зеркало 2, которое сканирует его с частотой 50-400 Гц по направляющим зеркалам 3 и 4, а затем в результате отражения от них по поверхностям а, Ь контролируемого изделия 11 и образуют развертку в виде полосы, поперечной его движению. Диффузная составляющая отраженного луча, лежащая в телесном угле, имеющем направление, перпендикулярное к поверхностям с1, 5 попадает на поляроиды 7 и 8, а, пройдя через них, на фотоприемники 9 и 10.

Зеркальная составляющая отраженного луча попадает на эталонные зеркала 5 и 6 и вновь направляется на контролируемые поверхности а, Ь, а затем на зеркала 3 и 4, и далее процесс повторяется до полного рассеяния луча.

При каждом акте отражения от контролируемых поверхностей д, Ь часть диффузно рассеянного луча попадает на фотоприемники 9 и 10. При этом интенсивность и степень деполяризации этих лучей возрастает по мере увеличения количества отражений, Вращение поляроидов 7 и 8 позволяет проанализировать степень деполяризации проходящих через них диффузно рассеянных лучей по минимуму и

30 максимуму интенсивности света, попадающего на фотоприемники 9 и 10.

В случае если контролируемые поверхности а, Ь абсолютно зеркальны, то луч полностью поглощается в результате многократного отражения, и фотоприемники 9 и 10 не зарегистрируют сигнал. По мере увеличения степени шероховатости фотоприемники

9 и 10 начинают вырабатывать полезный электрический сигнал, слабоменяющийся при вращении поляроидов

7 и 8 и малый по величине, так как число отражений остается большим, а степень деполяризации при этом высока.

При дальнейшем увеличении шероховатостей через поляроиды 8 и 7 начинает проходигь все большее количество света, отраженного зеркально от соответственно ориентированных микроплощадок, что приводит к возрастанию максимума электрического сигнала и к с".ижению его минимума.

Таким образом, по разнице минимумов и максимумов электрических сигна лов, возникающих при вращении поляроидов 7 и 8, можно судить о степени шероховатости контролируемых поверхностей a, Ь изделия 11. формула изобретения

Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия, содержащее последовательно установленные на одной оси лазер, отражающее и эталонное зеркала и фотоприемник, поляроид и плоское зеркало, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью возможности контроля изделия с двух противоположных поверхностей изделия в процессе его движения, оно снабжено вторыми отра. жающим и эталонным зеркалами, установленными вместе с первыми под углом друг к другу так, что образуют две пары зеркал, расположенных симметрично относительно оси устройства, вторым поляроидом, установленным вместе с. первым на одной оси устройства за каждой из пар зеркал с возможностью поворота относительно нее, вторым фотоприемником, установленным вместе с первым за соответствующим поляроидом, а плоское зеркало расположено за лазером с возможностью поворота относительно его луча.