PatentDB.ru — поиск по патентным документам

СУРЖКО ЕВГЕНИЙ МИХАЙЛОВИЧ

Изобретатель СУРЖКО ЕВГЕНИЙ МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для измерения деформаций

Устройство для измерения деформаций

  Изобретение относится к тензометрии и может быть использовано для измерения статикодинамических деформаций в элементах конструкций. Цель изобретения - повышение точности, что достигается использованием общего источника 3 для питания обоих тензорезистороа 1 и 2. Дифференциальный усилитель 4 с двумя входами и общей шиной, соединенными соответственно с двумя крайними и средней точко...

1698631