PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ВЕРГЕР Нильс (NL)

Изобретатель ВЕРГЕР Нильс (NL) является автором следующих патентов:

Интегральная система датчиков

Интегральная система датчиков

Изобретение предназначено для использования в производстве полупроводниковых приборов, в частности для экспонирования рисунков на полупроводниковые пластины и иные мишени. Литографическая машина содержит систему (132) проекционного объектива для фокусировки одного или более экспонирующих пучков на мишень, подвижный стол (134) для транспортировки мишени (9), емкостную измерительную систему (300)...

2532575

Емкостная измерительная система с дифференциальными парами

Емкостная измерительная система с дифференциальными парами

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к емкостному датчику для измерения расстояния, в частности, до мишени в литографическом устройстве. Сущность: емкостная измерительная система содержит два или более емкостных датчиков (30a, 30b), один или более источников (306a, 306b) питания переменного тока для подачи питания на емкостные датчики и схему обработки сигналов для обработки с...

2559993

Емкостная измерительная система

Емкостная измерительная система

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к емкостному датчику для измерения расстояния до мишени в литографическом устройстве. Сущность: емкостная измерительная система содержит датчик (30), имеющий тонкопленочную структуру, имеющую первый изолирующий слой (34) и первую проводящую пленку, содержащую измерительный электрод (31), сформированный на первой поверхности первого изоли...

2573447

Система литографии с модулем дифференциального интерферометра

Система литографии с модулем дифференциального интерферометра

Изобретение относится к области литографии и касается системы литографии. Система литографии включает в себя основание, установленную на основании оптическую колонну для проецирования шаблона на мишень, подвижный держатель мишени, модуль дифференциального интерферометра, предназначенный для измерения смещения держателя мишени. Держатель мишени и оптическая колонна снабжены соответственно первым и...

2612361

Способ определения положения подложки в системе литографии, подложка для использования в таком способе и система литографии для выполнения такого способа

Способ определения положения подложки в системе литографии, подложка для использования в таком способе и система литографии для выполнения такого способа

Изобретение относится к области литографии и касается системы для определения положения подложки в системе литографии. Система содержит оптическую колонну, чувствительный элемент оптического совмещения и подложку, содержащую оптическую отметку положения. Чувствительный элемент выполнен с возможностью испускания луча света на подложку и измерения профиля интенсивности луча отраженного света нулевог...

2659967