Абдулкадыров Магомед Абдуразакович (RU)
Изобретатель Абдулкадыров Магомед Абдуразакович (RU) является автором следующих патентов:
![Способ определения профиля асферической шлифованной поверхности Способ определения профиля асферической шлифованной поверхности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/51207fa38de6798ed5e609fd13c20aac.jpg)
Способ определения профиля асферической шлифованной поверхности
Изобретение относится к механическим средствам измерения контуров и профилей и может быть использовано при формообразовании асферических поверхностей крупногабаритных оптических деталей, в частности при контроле параметров крупногабаритных зеркал телескопов. Для измерения профиля шлифованной асферической поверхности крупногабаритной оптической детали используют линейный трехточечный сферометр с...
2545381![Устройство для разгрузки и способ разгрузки крупногабаритных зеркал телескопов Устройство для разгрузки и способ разгрузки крупногабаритных зеркал телескопов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/74e070b0d9120d783ee716e8f68437f8.jpg)
Устройство для разгрузки и способ разгрузки крупногабаритных зеркал телескопов
Изобретение относится к области абразивной обработки и может быть использовано при контроле и полировании крупногабаритных оптических деталей, в частности зеркал телескопов. Устройство содержит основание, опорные площадки и чувствительные эластичные комплекты с полостью, соединенные друг с другом трубками по меньшей мере в два круговых контура, разделенных на три сектора, и с системой сжатого...
2562548![Устройство для контроля параметров качества плоских оптических деталей, расположенных под углом к оптической оси Устройство для контроля параметров качества плоских оптических деталей, расположенных под углом к оптической оси](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c4fd4085d122931eed869992d198e13b.jpg)
Устройство для контроля параметров качества плоских оптических деталей, расположенных под углом к оптической оси
Изобретение относится к области оптического приборостроения, а именно к интерференционным системам и методам контроля качества оптических поверхностей. Устройство для контроля качества плоских оптических деталей, расположенных под углом к оптической оси, состоит из передающего канала, включающего источник излучения, формирующий два пучка, расположенных на расстоянии друг от друга со взаимно перп...
2573182![Способ установки ионного источника относительно обрабатываемой детали Способ установки ионного источника относительно обрабатываемой детали](/img/empty.gif)
Способ установки ионного источника относительно обрабатываемой детали
Изобретение относится к ионно-лучевой обработке крупногабаритных оптических деталей. Технический результат – повышение точности обработки поверхности деталей. Согласно способу в ионном источнике определяют контролирующее место и помещают в него щуп с датчиком. На обрабатываемой детали выбирают контрольные точки по ее периметру. Подводят щуп до контакта с поверхностью детали в контрольных точках и...
2608382![Интерферометр для многоцелевых оптических измерений Интерферометр для многоцелевых оптических измерений](https://img.patentdb.ru/i/200x200/38bde1df57edfe9d634c16cabda207b1.jpg)
Интерферометр для многоцелевых оптических измерений
Изобретение относится к области оптических измерений. Интерферометр содержит лазерный осветитель, вогнутое сферическое зеркало с центральным соосно осветителю отверстием, светоделительный элемент в виде куб-призмы с полупрозрачной гипотенузной гранью. На первой плоской грани куб-призмы выполнено микросферическое - вогнутое либо выпуклое - зеркало, центр которого располагается на оптической оси инт...
2615717![Ионный источник Ионный источник](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ca090a66cc6bacb13538835555fb47f7.jpg)
Ионный источник
Изобретение относится к газоразрядным электронным приборам с ионным пучком и может использоваться при обработке материалов, в частности при ионной полировке оптических деталей до дифракционного качества поверхности. Ионный источник содержит магнитную систему под потенциалом катода с кольцевым зазором между внутренним и внешним полюсами системы, постоянный магнит в качестве источника магнитодвижуще...
2630426