PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЛИН Эви (US)

Изобретатель ЛИН Эви (US) является автором следующих патентов:

Анализ стратиграфии трещин

Анализ стратиграфии трещин

Изобретение относится к области геофизики и может быть использовано для исследований трещин в процессе гидроразрыва пласта. Предложенные система, способ и программное обеспечение применимы для вычисления стратиграфии трещин в подземной области. В некоторых аспектах осуществляется получение данных о микросейсмических событиях, связанных с гидроразрывом в подземной области, причем подземная обла...

2599914

Идентификация кластеров ориентации по микросейсмическим данным

Идентификация кластеров ориентации по микросейсмическим данным

Изобретение относится к области геофизики и может быть использовано для отслеживания трещин в процессе гидроразрыва пласта. Предложенные система, способ и программное обеспечение могут использоваться для анализа микросейсмических данных из подземной зоны. В некоторых аспектах имеется множество базовых плоскостей, каждая из которых определена по подмножеству микросейсмических данных и имеет не...

2601535

Управление микросейсмическими данными для отслеживания трещин

Управление микросейсмическими данными для отслеживания трещин

Изобретение относится к области геофизики и может быть использовано для отслеживания трещин в процессе гидроразрыва пласта. Предложенные система, способ и программное обеспечение могут использоваться для анализа микросейсмических данных, обусловленных гидроразрывом. В некоторых аспектах сохраняемые данные связывают плоскость трещины с первым множеством микросейсмических событий, возникших всле...

2602403

Обновление микросейсмических гистограммных данных

Обновление микросейсмических гистограммных данных

Изобретение относится к области геофизики и может быть использовано для отслеживания трещин в процессе гидроразрыва пласта. Предложены система, способ и носитель данных, используемые для анализа микросейсмических данных, собранных при гидравлическом разрыве пласта в подземной зоне. В некоторых аспектах настоящего изобретения каждую базовую плоскость из множества базовых плоскостей задают по подм...

2605192