Макеев Мстислав Олегович (RU)
Изобретатель Макеев Мстислав Олегович (RU) является автором следующих патентов:
![Способ определения стойкости к радиационным и температурным воздействиям наноэлектронного резонансно-туннельного диода (ртд) на основе многослойных algaas (алюминий, галлий, арсеникум) полупроводниковых гетероструктур Способ определения стойкости к радиационным и температурным воздействиям наноэлектронного резонансно-туннельного диода (ртд) на основе многослойных algaas (алюминий, галлий, арсеникум) полупроводниковых гетероструктур](https://img.patentdb.ru/i/200x200/dae6f1f7cf63443d83c593cc43a2dbce.jpg)
Способ определения стойкости к радиационным и температурным воздействиям наноэлектронного резонансно-туннельного диода (ртд) на основе многослойных algaas (алюминий, галлий, арсеникум) полупроводниковых гетероструктур
Использование: для определения стойкости к радиационным и температурным воздействиям наноэлектронного резонансно-туннельного диода. Сущность изобретения заключается в том, что способ определения стойкости к радиационным и температурным воздействиям наноэлектронного резонансно-туннельного диода (РТД) на основе многослойных AlGaAs (алюминий, галлий, арсеникум) полупроводниковых гетероструктур заключ...
2606174![Способ неразрушающего контроля качества теплового контакта термоэлектрического модуля Способ неразрушающего контроля качества теплового контакта термоэлектрического модуля](https://img.patentdb.ru/i/200x200/1198720ac19c18aedd79933b1b517482.jpg)
Способ неразрушающего контроля качества теплового контакта термоэлектрического модуля
Изобретение относится к области оптико-физических измерений и касается способа неразрушающего контроля качества теплового контакта термоэлектрического модуля. Контроль осуществляется путем определения наличия/отсутствия воздушных полостей в его структуре методом спектроскопической эллипсометрии. Способ включает в себя измерение спектров эллипсометрических параметров Ψ и Δ по площади термоэлектриче...
2650833