Саунин С.А. (RU)

 Сканирующий зондовый микроскоп содержит корпус, на котором установлено сканирующее устройство по трем координатам с держателем зонда, держатель объекта, устройство позиционного перемещения зонда относительно объекта, содержащее первый привод, устройство предварительного сближения держателя с держателем объекта и устройство модификации поверхности объекта. Устройство модификации поверхност...

Изобретение относится к устройствам, обеспечивающим защиту прецизионных устройств от внешних силовых воздействий, таких как вибрации, толчки и т.д. Магнитный демпфер содержит основание, подвесы, закрепленные на основании, содержащие виброгасители, в состав которых входят упругие элементы растяжения, соединенные с подвижной платформой, а также магниты, расположенные по замкнутой линии, и проводящий...

Изобретение относится к области туннельной и атомно-силовой микроскопии, а точнее к устройствам, обеспечивающим градуировку сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ). Сущность изобретения заключается в том, что в тестовой структуре для градуировки СЗМ, состоящей из основания и расположенных на нем искусственных упорядоченных микроструктур с известными геометрическими параметрами, в качестве искусстве...

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов. Сущность изобретения заключается в том, что в многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа, содержащий основание, на котором закреплены консоли с зондами на концах, введена платформа, основание выпо...

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) физических характеристик поверхности объектов с одновременным оптическим наблюдением зоны сканирования. Сущность изобретения состоит в том, что в СЗМ, совмещенном с оптическим микроскопом (ОМ), который содержит основание, зонд, пьезосканер, держатель объекта с объектом,...

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим поддержание температуры образцов в широком диапазоне при измерении и других технологических операциях в сканирующих зондовых микроскопах (СЗМ). Предлагаемое изобретение целесообразно использовать в вакуумном оборудовании. Сущность изобретения заключается в том, что устройство поддержания темп...

Изобретение относится к нанотехнологии, к устройствам, обеспечивающим анализ и модификацию поверхности образцов в жидкой среде с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии. Сканирующий зондовый микроскоп с электрохимической ячейкой содержит держатель образца, первую платформу, на которой установлен корпус, пьезосканер. Между корпусом и пьезосканером размещена эластичная мембрана, устр...

Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии. Пьезосканер содержит основание, на котором закреплена пьезотрубка со сквозными пазами, выполненными вдоль продольной оси симметрии пьезотрубки и образующими четыре фрагмента. На каждом фрагменте пьезотрубки сформированы основные электроды. Внутренние электроды расположены напротив наружных электродов. На противоположной стороне от основания...

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии. В многозондовом датчике консольного типа содержится основание, плоские гибкие консоли с управляющими приводами и кремниевыми зондами. Кремниевый зонд содержит пьедестал. Пьедестал выполнен в виде призмы, одной боковой гранью закрепленной на плоской гибкой консоли. Противоположная грань параллельна плоскости консоли. Основания образо...

Изобретение относится к сканирующим зондовым микроскопам, к устройствам, обеспечивающим взаимные перемещения зонда и сканируемого образца. Сканирующий зондовый микроскоп с эквивалентом сканера содержит трубчатый сканер, эквивалент сканера, выполненный в виде механически независимых трубчатых элементов перемещений. Эквивалент сканера содержит датчики перемещений. Сканер и элементы перемещений эквив...

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно к устройствам, обеспечивающим получение информации о поверхности образцов и модификацию поверхности образцов в туннельном и атомно-силовом режимах в сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ). Силовой зонд на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа содержит кварцевый резонатор с иглой, закрепленной на плоскос...

Устройство относится к области криогенной техники и может быть использовано для охлаждения объектов измерений. Криогенный ввод содержит теплообменник с держателем объекта. Теплообменник расположен в вакуумной камере. Теплообменник соединен с первым трубопроводом для подачи хладагента и со вторым трубопроводом для отвода хладагента. Трубопроводы подключены к источнику хладагента. Места соединения т...

Изобретение относится к устройствам для микроперемещения объекта в плоскости по двум координатам, в частности для перемещения образцов, держателей образцов и других элементов в сканирующей зондовой микроскопии. Координатный стол содержит платформу, на которой установлена каретка с основанием, закреплены первый и второй приводы соответственно по первой и второй координатам, а также первый и второй...

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию. Малогабаритный сканирующий зондовый микроскоп содержит привод, опорный фланец. Опорный фланец сопряжен соединительным элементом с измерительной головкой. Измерительная головка включает держатель образца с образцом, держатель зонда с зондом, механизм их предварительного сближения, пьезосканер. Механизм предварительного сближения зонда с обр...

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и. может быть использовано для возбуждения механических колебаний зонда. Устройство содержит держатель кантилевера с кантилевером, включающим основание с гибкой балкой, источник возбуждения колебаний гибкой балки относительно образца, блок поддержания положения гибкой балки, второй электрод. На гибкой балке сформированы первая и втор...