Якушев А.В. (RU)

Изобретение относится к формированию микрорельефа поверхностей изделий и может найти применение в электронной технике. Обработку поверхности заготовки осуществляют сконцентрированным потоком излучения, который моделируют по времени, направляют на обрабатываемую поверхность и перемещают по обрабатываемой поверхности, формируя требуемый профиль рисунка путем повторения перемещения сконцентрированног...

Изобретение относится к испытательной технике. Устройство для испытания образцов материалов на растяжение состоит из элемента повышенной жесткости системы нагружения зоны локализации деформации, внутри которого расположены самоцентрирующиеся захваты с резьбой для крепления образца и системы сбора и обработки информации. Система сбора и обработки информации содержит мессдозу, а элемент повышенной ж...