Жаринов К.А. (RU)

Изобретение относится в аналитическому приборостроению, в частности к способам создания градуировочных моделей для различного вида измерительных приборов, позволяющих определить одно или несколько вторичных свойств неизвестного образца по результатам измерения множества первичных свойств этого образца. Способ создания независимых многомерных градуировочных моделей включает в себя подбор градуирово...