PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Короткова Екатерина Игоревна (RU)

Изобретатель Короткова Екатерина Игоревна (RU) является автором следующих патентов:

Анализатор параметрических отказов и сбоев

Анализатор параметрических отказов и сбоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при проектировании, производстве, испытаниях и эксплуатации радиоэлектронных изделий (РЭИ). Техническим результатом является расширение класса решаемых задач и повышение достоверности результатов анализа за счет введения контроля моментов возникновения сбоев и их длительности, псевдопараллельной обработки контролиру...

2270470