Кузнецов Андрей Альбертович (RU)

Изобретение относится к измерительной технике. В способе спектры эталона и пробы представляют с помощью базисных функций в одних и тех же точках дискретизации и представляют параметры спектральных линий путем корреляционного анализа этих функций, причем в качестве базисных функций используют вейвлет - функцию. Технический результат - повышение точности измерения параметров спектра. 9 ил.

Изобретение относится к эмиссионному спектральному анализу. Для определения содержания массовых долей элементов в материалах и сплавах производится возбуждение излучения образца в низкотемпературной плазме, регистрация эмиссионного спектра образца, измерение интенсивности аналитической линии элемента и линии сравнения, расчет содержания искомого элемента в пробе по физической модели, содержащей вы...

Изобретение относится к атомному эмиссионному спектральному анализу материалов и сплавов. Технический результат - повышение точности спектрального анализа металлов и сплавов за счет устранения временного дрейфа градуировочных зависимостей в условиях воздействия мешающих факторов в течение длительного интервала времени. Указанный результат достигается путем измерения интенсивностей спектральных ли...