Сивоплясов Дмитрий Владимирович (RU)
Изобретатель Сивоплясов Дмитрий Владимирович (RU) является автором следующих патентов:
![Нейронная сеть для обнаружения, локализации и исправления ошибок в системе остаточных классов Нейронная сеть для обнаружения, локализации и исправления ошибок в системе остаточных классов](/img/empty.gif)
Нейронная сеть для обнаружения, локализации и исправления ошибок в системе остаточных классов
Нейронная сеть для обнаружения, локализации и исправления ошибок в системе остаточных классов относится к вычислительной технике и может быть использована в модулярных нейрокомпьютерных системах. Техническим результатом является повышение скорости коррекции ошибок, сокращение оборудования, а также расширение функциональных возможностей. Для этого нейронная сеть содержит входной слой, нейронные сет...
2301442![Устройство комплексной оценки технического состояния многоканальных телекоммуникационных систем Устройство комплексной оценки технического состояния многоканальных телекоммуникационных систем](/img/empty.gif)
Устройство комплексной оценки технического состояния многоканальных телекоммуникационных систем
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при создании систем автоматизированного контроля и диагностирования многоканальных телекоммуникационных систем. Технический результат заключается в повышении быстродействия диагностирования многоканальных телекоммуникационных систем при распознавании отказов. Он достигается тем, что контроль объекта осуществляется...
2368935![Устройство пеленгации исскуственных ионосферных образований Устройство пеленгации исскуственных ионосферных образований](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c2c45639fb4a926256d405eefe4c317d.jpg)
Устройство пеленгации исскуственных ионосферных образований
Предлагаемое изобретение может быть использовано для радиозондирования ионосферы, определения интенсивности ионосферных неоднородностей и пеленгации искусственных ионосферных образований. Достигаемый технический результат - повышение точности определения полного электронного содержания в условиях диффузности и получение информации о состоянии ионосферы в заданном направлении. Указанный результ...
2523912