Жарких Александр Петрович (RU)

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности варикапов, и может быть использовано для отбраковки потенциально ненадежных приборов, а также для выделения приборов повышенной надежности как на этапе производства, так и на этапе применения. Сущность: измерение максимальной емкости варикапов проводится до воздействия электростатического заряда (ЭСР),...

Предложенное изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления полупроводниковых изделий (ППИ), имеющих p-n переходы и защищенных специальными пленками. Цель изобретения - повышение точности диагностики и увеличение функциональных возможностей контроля ППИ на пластине с использованием коронного разряда. Способ определения потенциально нестабильных...

Предложенное изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления полупроводниковых изделий (ППИ), в частности диодов, транзисторов, интегральных схем, а также для анализа изделий, отказавших у потребителя. Цель изобретения - повышение точности диагностики и увеличение функциональных возможностей контроля ППИ с использованием производных вольт-амперн...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к обеспечению надежности партий биполярных транзисторов за счет определения потенциально ненадежных приборов, и может быть использовано как на этапе производства, так и применения. Способ определения потенциально ненадежных биполярных транзисторов заключается в измерении низкочастотного шума транзистора, который проводят на двух переходах эмиттер...

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления полупроводниковых изделий (ППИ), а также для анализа изделий, отказавших у потребителя, позволяющих после их вскрытия с сохранением контактов воздействовать на открытый кристалл потоком ионов, образующихся при коронном разряде. Сущность изобретения: устройство состоит из основания для закрепления п...

Предложенное изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления интегральных схем (ИС) оперативно запоминающих устройств (ОЗУ), а также для причин их отказов. Цель изобретения - повышение точности диагностики и увеличение функциональных возможностей контроля полупроводниковых изделий с использованием информационно-энергетического метода. Устройство...

Предложенное изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления полупроводниковых изделий (ППИ), имеющих р-n переходы, а также для анализа изделий, отказавших у потребителя, позволяющих после их вскрытия с сохранением контактов воздействовать на открытый кристалл потоком ионов, образующихся при коронном разряде. Цель изобретения - повышение точност...

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано при контроле микросхем и полупроводниковых приборов. Сущность: на первом этапе из партии полупроводниковых изделий одного типа случайным образом формируют выборку. На полупроводниковые изделия выборки подают импульсы тока различной частоты, нагревая их. Измеряют амплитуду упругой деформации корпуса изделий, возникающую за счет...

Предложенное устройство содержит генератор линейно изменяющегося напряжения, выход которого соединен с входной клеммой для подключения исследуемого полупроводникового изделия, логарифмичесий усилитель, аналогово-цифровой преобразователь, цифроаналоговый преобразователь, электронно-вычислительную машину, монитор, схему управления усилителем и схему управления и запуска генератора линейно изменяющег...

Изобретение относится к области электротехники, в частности к производству и эксплуатации полупроводниковых приборов (ПП), и может быть использовано для отбора из партии ПП повышенной надежности в процессе производства, а также на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной промышленности. Технический результат: повышение достоверности и расширение функциональных возможностей....

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки технологии производства изделий электронной техники, например интегральных микросхем и полупроводниковых приборов, и на входном контроле приборостроительных предприятий. Сущность: устройство состоит из станины, кронштейна, датчика малых перемещений, генератора тока, рычага с соотношением плеч l1/l2=n, усилителя, ана...

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления полупроводниковых интегральных схем (ИС), а также для анализа изделий, отказавших у потребителя. Технический результат: повышение точности диагностики и расширения функциональных возможностей контроля ИС. Сущность: устройство содержит генератор тестов, блок управления генератором тестов, источник п...

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления полупроводниковых изделий (ППИ), а также для анализа изделий, отказавших у потребителя. Технический результат: повышение точности диагностики и расширение функциональных возможностей контроля ППИ. Сущность: измеряют вольт-амперную характеристику (ВАХ), вычисляют первую и вторую производные ВАХ при...

Изобретение относится к электронной промышленности и может быть использовано для испытаний и отбраковки полупроводниковых изделий в процессе их изготовления и эксплуатации. Сущность изобретения: отбраковка полупроводниковых изделий, включающая измерение диагностических характеристик (вольт-амперных характеристик, вольт-фарадных характеристик, ампер-шумовых характеристик, низкочастотного шума, кр...

Изобретение относится к области испытаний изделий электронной техники и может быть использовано для оценки качества и надежности изделий микро- и наноэлектроники, применяемых в аппаратуре с длительными сроками эксплуатации. Сущность изобретения: для определения потенциально нестабильных полупроводниковых изделий (ППИ) замеряют диагностические параметры изделий, воздействуют ионизирующим излучени...