PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Капустин Виктор Иванович (RU)

Изобретатель Капустин Виктор Иванович (RU) является автором следующих патентов:

Способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания

Способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания

Использование: для оценки размеров дефектов в направлении просвечивания. Сущность: заключается в том, что осуществляют радиографирование эталонных и реальных дефектов, фотометрирование полученных изображений и сравнение значений их контрастов ΔD, отнесенных к коэффициенту контрастности γD, строят или выбирают из ранее построенных зависимости величины ΔD/γD эталонных...

2313080

Способ радиографического контроля

Способ радиографического контроля

Использование: для радиографического контроля изделий. Сущность изобретения заключается в том, что на контролируемое изделие устанавливают образцы-имитаторы с канавками и отверстиями одинаковой глубины Δdэт.д, но различной ширины (диаметра) при этом длина канавок канавки и отверстия попарно соответствуют по ширине и диаметру, замеряют по полученному снимку длину lр.д и ширину и bр.д выяв...

2315979

Способ оценки качества сварных соединений по результатам радиографического контроля

Способ оценки качества сварных соединений по результатам радиографического контроля

Использование: для оценки качества сварных соединений. Сущность: заключается в том, что осуществляют просмотр радиографических снимков, фиксируют чувствительность контроля по изображению эталона чувствительности и измеряют размеры изображений дефектов, при этом выбирают конкретный тип эталона чувствительности, прогнозируют типы возможных дефектов для контролируемого сварного соединения, количестве...

2318204

Способ радиографического контроля с применением фосфорных запоминающих пластин

Способ радиографического контроля с применением фосфорных запоминающих пластин

Использование: для радиографического контроля сварных соединений, наплавок и основного металла изделия. Сущность: заключается в том, что устанавливают на контролируемый объект фосфорную запоминающую пластину и проводят на нее просвечивание объекта при сниженном на 10-30% от применяемого при просвечивании на радиографическую пленку напряжении на рентгеновской трубке, обеспечивающем для пластины не...

2393463

Способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания

Способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания

Использование: для оценки размеров дефектов в направлении просвечивания. Сущность: заключается в том, что осуществляют сравнение изображений радиографируемых на один снимок эталонных и реальных дефектов, при этом на контролируемое сварное соединение, в котором возможно наличие шлаковых включений, устанавливают, наряду с эталоном-имитатором с канавками различной ширины, но одинаковой глубины, равн...

2399908


Способ радиографирования изделий

Способ радиографирования изделий

Использование: для радиографического контроля изделий. Сущность: заключается в том, что осуществляют повторное рентгенопросвечивание участков сварного соединения, на первоначальных рентгеновских снимках которого были выявлены сомнительного происхождения полосы и пятна, с установленным на выходное окно рентгеновской трубки свинцовым фильтром, при этом устанавливают на контролируемых участках при п...

2437080

Способ определения глубины залегания дефекта

Способ определения глубины залегания дефекта

Использование: для определения глубины залегания дефекта. Сущность: устанавливают на контролируемый участок изделия со стороны источника излучения образец-имитатор дефектов, имеющий эталонный дефект, соответствующий по размеру реальному, выявленному на снимке дефекту, глубина залегания которого подлежит определению, затем проводят двойное просвечивание без изменения направления излучения при разл...

2437081

Способ оценки глубины залегания дефекта

Способ оценки глубины залегания дефекта

Использование: для оценки глубины залегания дефекта. Сущность: заключается в том, что выполняют первый и второй снимки без изменения направления просвечивания при различном расстоянии от источника излучения до контролируемого изделия, после чего замеряют размеры изображений дефекта на обоих снимках и на основе проведенных замеров и известной геометрии просвечивания проводят расчетную оценку глуби...

2438120

Способ радиационной дефектоскопии

Способ радиационной дефектоскопии

Использование: для неразрушающего контроля объектов посредством проникающего излучения. Сущность: заключается в том, что осуществляют генерирование проникающего излучения, его фильтрацию с последующим пропусканием через объект контроля и регистрацией прошедшего излучения, при этом в качестве генерируемого проникающего излучения используют гамма-излучение изотопа тулия Tm170, а для фильтрации исп...

2486496

Радионуклидный источник излучения для радиационной гамма-дефектоскопии

Радионуклидный источник излучения для радиационной гамма-дефектоскопии

Изобретение относится к области радиоактивных источников, в частности к радионуклидным источникам гамма-излучения, и может найти применение для радиационной гамма-дефектоскопии. Заявленный радионуклидный источник излучения для радиационной гамма-дефектоскопии включает герметичную капсулу из ванадия, содержащую в качестве излучающего вещества облученный сплав селен-ванадий, причем облученный спла...

2499312