Двойнишников Сергей Владимирович (RU)
Изобретатель Двойнишников Сергей Владимирович (RU) является автором следующих патентов:
Способ бесконтактного измерения линейных размеров трехмерных объектов
Способ бесконтактного контроля линейных размеров трехмерных объектов заключается в многократном формировании на поверхности контролируемого объекта зондирующей структурированной подсветки путем освещения поверхности контролируемого объекта пучком оптического излучения, каждый раз с управлением пространственной модуляцией интенсивности пучка оптического излучения, а также последовательной регистрац...
2334195Способ бесконтактного измерения линейных размеров трехмерных объектов
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для бесконтактного измерения формы поверхности сложных трехмерных объектов в машиностроении, медицине, стоматологии, судебно-медицинской экспертизе и т.д. Способ бесконтактного измерения линейных размеров трехмерных объектов заключается в многократном формировании на поверхности контролируемого объекта зондирующей стр...
2433372Способ бесконтактного измерения геометрии трехмерных объектов
Способ заключается в многократном формировании на поверхности контролируемого объекта зондирующей структурированной подсветки путем освещения поверхности контролируемого объекта пучком оптического излучения, каждый раз с управлением пространственной модуляцией интенсивности пучка оптического излучения и последовательной регистрации изображений искаженной рельефом поверхности контролируемого объек...
2439489Лазерное устройство для измерения воздушного зазора электрической машины
Лазерное устройство для измерения воздушного зазора электрической машины, содержащей статор и ротор, включает лазер, имеющий две грани резонатора для излучения выходного света, свет из первой грани резонатора рассеивается на поверхности ротора электрической машины и попадает обратно в лазер, модуль управления оптической частотой лазера, подключенный к лазеру и изменяющий его оптическую рабочую ча...
2469264Оптический способ измерения мгновенного поля толщины прозрачной пленки
Способ может быть использован для бесконтактных, непрерывных измерений толщин прозрачной пленки. Способ включает направленное воздействие лучей света на пленку, их полное внутреннее отражение на границе раздела сред и последующую обработку отраженного света. Источник света помещают над пленкой или под пленкой, от которого образуются лучи света, направленные под углами - меньшими предельного угла...
2506537Способ триангуляционного измерения толщины листовых изделий
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для автоматизации процессов контроля и сортировки листового проката и других подобных изделий. Техническим результатом изобретения является повышение точности определения толщины листового изделия. В способе триангуляционного измерения толщины листовых изделий осуществляют подачу листового изделия в зону и...
2537522Неинвазивный способ лазерной нанодиагностики онкологических заболеваний
Изобретение относится к медицине, а именно к диагностике, и может быть использовано для неинвазивной лазерной нанодиагностики онкологических заболеваний. Для этого проводят исследование биологической жидкости пациента методом лазерной корреляционной спектроскопии, определяют диагностический показатель и диагностируют заболевание по значению диагностического показателя. При этом в качестве биоло...
2542427Способ облачной триангуляции толщины горячего проката
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для автоматизации процессов контроля и сортировки листового проката и других подобных изделий. В заявленном способе противоположные стороны проката зондируют набором световых лучей с известным пространственным распределением интенсивности. В результате сечения этих лучей поверхностью проката формируются о...
2574864Триангуляционный способ измерения отклонения объекта и определения его ориентации в пространстве
Триангуляционный способ измерения отклонения объекта и определения его ориентации в пространстве содержит этап, на котором источник излучения формирует на поверхности исследуемого объекта световое пятно в виде двух пересекающихся световых линий за счет освещения исследуемого объекта засветкой в виде двух ортогональных световых ножей. Величину отклонения исследуемого объекта определяют по отклонени...
2610009