ХИТОН Николас Дж. (US)
Изобретатель ХИТОН Николас Дж. (US) является автором следующих патентов:

Анализ ямр-данных многократных измерений на основе максимальной энтропии
Использование: для каротажа скважин с помощью ядерного магнитного резонанса. Сущность: заключается в том, что выполняют множество измерений методом ядерно-магнитного резонанса (ЯМР) системы ядерных спинов, регистрируют ЯМР-данные, полученные в каждом из множества измерений ЯМР, вычисляют многомерное множество данных путем выполнения процесса обратного преобразования на ЯМР-данных, которое не завис...
2334975
Способы интерпретации диффузионных-т2 карт, полученных с использованием ямр данных
Изобретение относится к обработке ЯМР данных. Сущность: получают набор ЯМР данных для образца флюида, расположенного либо в стволе скважины, либо в лабораторных условиях. Из набора ЯМР данных вычисляют многомерное распределение с использованием математической инверсии, которая не зависит от предварительных данных свойств образца флюида. Многомерное распределение графически отображается на многом...
2378668