PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ХИТОН Николас Дж. (US)

Изобретатель ХИТОН Николас Дж. (US) является автором следующих патентов:

Анализ ямр-данных многократных измерений на основе максимальной энтропии

Анализ ямр-данных многократных измерений на основе максимальной энтропии

Использование: для каротажа скважин с помощью ядерного магнитного резонанса. Сущность: заключается в том, что выполняют множество измерений методом ядерно-магнитного резонанса (ЯМР) системы ядерных спинов, регистрируют ЯМР-данные, полученные в каждом из множества измерений ЯМР, вычисляют многомерное множество данных путем выполнения процесса обратного преобразования на ЯМР-данных, которое не завис...

2334975

Способы интерпретации диффузионных-т2 карт, полученных с использованием ямр данных

Способы интерпретации диффузионных-т2 карт, полученных с использованием ямр данных

Изобретение относится к обработке ЯМР данных. Сущность: получают набор ЯМР данных для образца флюида, расположенного либо в стволе скважины, либо в лабораторных условиях. Из набора ЯМР данных вычисляют многомерное распределение с использованием математической инверсии, которая не зависит от предварительных данных свойств образца флюида. Многомерное распределение графически отображается на многом...

2378668