Брюшинин Михаил Алексеевич (RU)

Изобретение относится к полупроводниковой электронике и может быть использовано в производстве оптоэлектронных и оптических компонентов на этапах проектирования изделий и тестирования заготовок. Техническим результатом изобретения является сокращение времени и упрощение процесса тестирования полупроводниковых материалов. Сущность изобретения: в способе определения фотоэлектрических параметров выс...