Князев Борис Александрович (RU)
Изобретатель Князев Борис Александрович (RU) является автором следующих патентов:
![Способ измерения распределения величины комплексного показателя преломления сильно поглощающих образцов Способ измерения распределения величины комплексного показателя преломления сильно поглощающих образцов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6288180f592c2a07f460c5ecf2c60097.jpg)
Способ измерения распределения величины комплексного показателя преломления сильно поглощающих образцов
Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано для исследования пространственного распределения комплексного показателя преломления по поверхности сильно поглощающих материалов. Образец размещают на плоской поверхности элемента НПВО с высоким показателем преломления, на границу раздела подают световой пучок монохроматического излучения с расходимостью не более 5·10-2 рад и дл...
2396547![Способ преобразования монохроматического инфракрасного излучения в поверхностную электромагнитную волну Способ преобразования монохроматического инфракрасного излучения в поверхностную электромагнитную волну](https://img.patentdb.ru/i/200x200/58c53036239af280e375649af2291b5f.jpg)
Способ преобразования монохроматического инфракрасного излучения в поверхностную электромагнитную волну
Изобретение может быть использовано в ИК-спектроскопии поверхности металлов и полупроводников, в исследованиях физико-химических процессов на поверхности твердого тела, а также в устройствах передачи и обработки информации с помощью ИК-излучения. Способ преобразования монохроматического инфракрасного излучения в поверхностную электромагнитную волну (ПЭВ) включает размещение образца на прозрачной...
2411467![Способ определения показателя преломления поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона Способ определения показателя преломления поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона](https://img.patentdb.ru/i/200x200/031db3311183f6249719f0cf26c373a6.jpg)
Способ определения показателя преломления поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона
Изобретение относится к оптике конденсированных сред и может быть использовано для определения оптических постоянных твердых тел с отрицательной действительной частью диэлектрической проницаемости. Способ включает измерение интенсивности поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) после пробега волной двух различных расстояний по плоской поверхности образца и глубины проникновения поля ПЭВ в окруж...
2419779![Устройство для измерения длины распространения монохроматических поверхностных электромагнитных волн инфракрасного диапазона Устройство для измерения длины распространения монохроматических поверхностных электромагнитных волн инфракрасного диапазона](https://img.patentdb.ru/i/200x200/efb0d9f9ab4cbb479d06fbc23409e7fb.jpg)
Устройство для измерения длины распространения монохроматических поверхностных электромагнитных волн инфракрасного диапазона
Устройство содержит источник лазерного излучения, твердотельный образец с плоской поверхностью, направляющей ПЭВ, состоящий из двух частей, имеющих сопряженные поверхности, зафиксированный относительно первой части по ходу излучения элемент преобразования излучения в ПЭВ, приемник излучения. Приемник излучения размещен в плоскости падения излучения у края образца и подключен к измерительному приб...
2470269![Инфракрасный амплитудно-фазовый плазмонный спектрометр Инфракрасный амплитудно-фазовый плазмонный спектрометр](/img/empty.gif)
Инфракрасный амплитудно-фазовый плазмонный спектрометр
Изобретение относится к инфракрасной спектроскопии поверхностей металлов и полупроводников. Спектрометр содержит перестраиваемый по частоте источник p-поляризованного монохроматического излучения, элемент преобразования излучения источника в поверхностные плазмоны (ПП), твердотельный проводящий образец с плоскогранной поверхностью, фотодетектор, устройство обработки информации и непрозрачный экра...
2477841![Способ локализации неоднородностей металлической поверхности в инфракрасном излучении Способ локализации неоднородностей металлической поверхности в инфракрасном излучении](https://img.patentdb.ru/i/200x200/1ddc746b8ff91bdc50201cb0b8277723.jpg)
Способ локализации неоднородностей металлической поверхности в инфракрасном излучении
Изобретение относится к оптическим методам контроля качества поверхностей металлов и полупроводников. Способ включает воздействие на поверхность зондирующим излучением, для которого металл имеет отрицательную действительную часть диэлектрической проницаемости, преобразование излучения в набор пучков поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), направляемых поверхностью, освещение контролируемого уч...
2479833![Способ определения набега фазы монохроматической поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона Способ определения набега фазы монохроматической поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона](/img/empty.gif)
Способ определения набега фазы монохроматической поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона
Изобретение относится к оптическим методам контроля проводящей поверхности в инфракрасном (ИК) излучении и может быть использовано в физико-химических исследованиях динамики роста переходного слоя поверхности, в технологических процессах для контроля толщины и однородности тонкослойных покрытий металлизированных изделий и полупроводниковых подложек, а также в сенсорных устройствах. Способ опреде...
2491522![Способ определения глубины проникновения поля терагерцовых поверхностных плазмонов в окружающую среду Способ определения глубины проникновения поля терагерцовых поверхностных плазмонов в окружающую среду](https://img.patentdb.ru/i/200x200/707c84a8d26d27add90783e54951fc6a.jpg)
Способ определения глубины проникновения поля терагерцовых поверхностных плазмонов в окружающую среду
Изобретение относится к оптическим методам контроля поверхности металлов и полупроводников в терагерцовом диапазоне спектра и может найти применение в технологических процессах для контроля толщины и однородности тонкослойных покрытий металлизированных изделий и полупроводниковых подложек, в методах по обнаружению неоднородностей (на) проводящей поверхности, в инфракрасной (ИК) рефрактометрии ме...
2491533![Способ управления спектром пучка широкополосного терагерцового излучения Способ управления спектром пучка широкополосного терагерцового излучения](https://img.patentdb.ru/i/200x200/69c97b5f2c6dfe5a1ff5588f08030425.jpg)
Способ управления спектром пучка широкополосного терагерцового излучения
Изобретение относится к оптике дальнего инфракрасного (ИК) и терагерцового (ТГц) диапазонов и может найти применение в установках, содержащих широкополосные источники ТГц-излучения, в ТГц плазменной и фурье-спектроскопии проводящей поверхности и тонких слоев на ней, в перестраиваемых фильтрах ТГц-излучения. Способ управления спектром пучка широкополосного ТГц-излучения включает размещение на пут...
2491587![Способ измерения длины распространения инфракрасных поверхностных плазмонов по реальной поверхности Способ измерения длины распространения инфракрасных поверхностных плазмонов по реальной поверхности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b0757a62dd498542c9a4687ab387e8a1.jpg)
Способ измерения длины распространения инфракрасных поверхностных плазмонов по реальной поверхности
Изобретение относится к области бесконтактного исследования поверхности металлов оптическими методами, а именно к способу измерения длины распространения поверхностных плазмонов, направляемых этой поверхностью. Способ включает измерение интенсивности излучения вдоль трека плазмонов и расчет значения длины распространения по результатам измерений. При этом проводят измерение интенсивности объемно...
2512659![Способ пассивной локализации ребер прямоугольного металлического параллелепипеда в инфракрасном излучении Способ пассивной локализации ребер прямоугольного металлического параллелепипеда в инфракрасном излучении](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d84fc41f9714e677344a59b2006ea948.jpg)
Способ пассивной локализации ребер прямоугольного металлического параллелепипеда в инфракрасном излучении
Изобретение относится к бесконтактным пассивным методам обнаружения и локализации металлических объектов в инфракрасном (ИК) излучении, а именно к локализации металлических тел в форме прямоугольного параллелепипеда путем регистрации излучаемого ими теплового ИК-излучения, и может найти применение в системах спецтехники, предназначенных для обнаружения и установления точного местонахождения и ра...
2522775![Способ сопряжения набора вторичных плазмон-поляритонных каналов связи терагерцового диапазона с основным каналом Способ сопряжения набора вторичных плазмон-поляритонных каналов связи терагерцового диапазона с основным каналом](https://img.patentdb.ru/i/200x200/1d26b132701375210942cd7eaef99b63.jpg)
Способ сопряжения набора вторичных плазмон-поляритонных каналов связи терагерцового диапазона с основным каналом
Изобретение относится к области средств коммуникации, в которых перенос информации осуществляется поверхностными электромагнитными волнами, точнее поверхностными плазмон-поляритонами (ППП) терагерцового (ТГц) диапазона, направляемыми плоской поверхностью проводящей подложки, и может найти применение в плазмонных сетях связи, а также в устройствах сбора и обработки информации с использованием эле...
2526888![Геодезическая призма для отклонения пучка монохроматических поверхностных плазмон-поляритонов терагерцового диапазона Геодезическая призма для отклонения пучка монохроматических поверхностных плазмон-поляритонов терагерцового диапазона](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d8c52bb8a4b14d1dfd1de677eaa5627b.jpg)
Геодезическая призма для отклонения пучка монохроматических поверхностных плазмон-поляритонов терагерцового диапазона
Изобретение относится к области передачи информации посредством поверхностных электромагнитных волн и касается геодезической призмы для отклонения пучка монохроматических поверхностных плазмон-поляритонов (ППП). Геодезическая призма выполнена в виде конусной канавки, которая расположена на плоской поверхности образца и имеет сглаженные края. Ось канавки параллельна поверхности образца и перпенди...
2547164![Способ регулирования интенсивности инфракрасной поверхностной электромагнитной волны на плоскогранной структуре Способ регулирования интенсивности инфракрасной поверхностной электромагнитной волны на плоскогранной структуре](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d6f2a680e0d054451434def875a15cbc.jpg)
Способ регулирования интенсивности инфракрасной поверхностной электромагнитной волны на плоскогранной структуре
Изобретение относится к области информационно-коммуникационных технологий и касается способа регулирования интенсивности инфракрасной поверхностной электромагнитной волны на плоскогранной структуре. Способ включает в себя преобразование на ребре структуры поверхностной электромагнитной волны в объемную, размещение в дальней волновой зоне излучающего участка ребра структуры другой плоскогранной в...
2561800![Инфракрасный амплитудно-фазовый плазмонный спектрометр Инфракрасный амплитудно-фазовый плазмонный спектрометр](/img/empty.gif)
Инфракрасный амплитудно-фазовый плазмонный спектрометр
Изобретение относится к инфракрасной (ИК) спектроскопии поверхности металлов и полупроводников, а именно к определению амплитудно-фазовых спектров как самой поверхности, так и ее переходного слоя, путем измерения характеристик направляемых этой поверхностью поверхностных плазмонов (ПП). Спектрометр содержит перестраиваемый по частоте источник р-поляризованного монохроматического излучения, плос...
2573617![Способ увеличения длины распространения инфракрасных монохроматических поверхностных электромагнитных волн по плоской металлической поверхности Способ увеличения длины распространения инфракрасных монохроматических поверхностных электромагнитных волн по плоской металлической поверхности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7eb545e5dd3bbe9a7d1c469814401018.jpg)
Способ увеличения длины распространения инфракрасных монохроматических поверхностных электромагнитных волн по плоской металлической поверхности
Изобретение относится к области информационно-коммуникационных технологий и касается способа увеличения длины распространения инфракрасных монохроматических поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) по плоской металлической поверхности. Способ включает в себя нанесение на поверхность слоя непоглощающего диэлектрика. До нанесения слоя определяют направление максимума диаграммы направленности объе...
2589465![Способ управления спектром пучка широкополосного терагерцевого излучения Способ управления спектром пучка широкополосного терагерцевого излучения](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a067f0d9d779386545b0604cf3a3c69e.jpg)
Способ управления спектром пучка широкополосного терагерцевого излучения
Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается способа управления спектром пучка широкополосного терагерцевого излучения. Способ включает в себя размещение на пути пучка излучения селективно поглощающего фильтра в виде поверхности проводящей пластины, придание излучению p-поляризации, преобразование поляризованного излучения в пучок направляемых поверхностью поверхностных п...
2625635![Устройство для промера распределения поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны над её треком Устройство для промера распределения поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны над её треком](https://img.patentdb.ru/i/200x200/496c151bc07532c500447356746c7d23.jpg)
Устройство для промера распределения поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны над её треком
Изобретение относится к области исследования поверхности металлов и полупроводников и касается устройства для промера распределения поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) над ее треком. Устройство содержит источник монохроматического излучения, элемент преобразования излучения в ПЭВ, твердотельный образец с направляющей волну плоской поверхностью и перемещаемую вдоль трека пл...
2625641![Статическое устройство для определения распределения интенсивности поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны вдоль её трека Статическое устройство для определения распределения интенсивности поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны вдоль её трека](https://img.patentdb.ru/i/200x200/bd417e0bdb794e31734be7dd557fa2c9.jpg)
Статическое устройство для определения распределения интенсивности поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны вдоль её трека
Изобретение относится к области оптических измерений и касается статического устройства для определения распределения интенсивности поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) вдоль ее трека. Устройство включает в себя источник монохроматического излучения, первый фокусирующий цилиндрический объектив, элемент преобразования излучения в ПЭВ, образец с направляющей волну плоской пов...
2629909![Способ определения показателя преломления монохроматической поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона Способ определения показателя преломления монохроматической поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона](https://img.patentdb.ru/i/200x200/53a64c73c5fe7a9c89861114d10af6a2.jpg)
Способ определения показателя преломления монохроматической поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона
Изобретение относится к области оптических измерений и касается способа определения показателя преломления монохроматической поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона. Способ включает в себя генерацию волны на плоской поверхности образца, размещение на пути волны плоского зеркала, отражающая грань которого наклонена относительно нормали к поверхности образца в сторону направлени...
2629928![Способ определения диэлектрической проницаемости металла в терагерцовом диапазоне спектра Способ определения диэлектрической проницаемости металла в терагерцовом диапазоне спектра](/img/empty.gif)
Способ определения диэлектрической проницаемости металла в терагерцовом диапазоне спектра
Изобретение относится к области оптических измерений и касается способа определения диэлектрической проницаемости металла в терагерцовом диапазоне спектра. Способ включает в себя возбуждение зондирующим пучком поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) на плоской поверхности металлического образца, измерение длины распространения ПЭВ и определение ее фазовой скорости, расчет комплексного показател...
2634094![Устройство для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны Устройство для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a361b84dcb39899d461cb72e458c3013.jpg)
Устройство для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны
Изобретение относится к области оптических измерений и касается устройства для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ). Устройство включает в себя источник монохроматического излучения, твердотельный образец с направляющей волну плоской гранью, элемент преобразования излучения в ПЭВ, регулируемую оптическую линию задержки, элемент преобразования ПЭВ...
2645008![Устройство для вариативной одноцветной спектроскопии "накачка-зондирование" в терагерцовом диапазоне Устройство для вариативной одноцветной спектроскопии "накачка-зондирование" в терагерцовом диапазоне](https://img.patentdb.ru/i/200x200/900b47383d4839867024dc87f3d21fd2.jpg)
Устройство для вариативной одноцветной спектроскопии "накачка-зондирование" в терагерцовом диапазоне
Устройство для вариативной одноцветной спектроскопии «накачка-зондирование» в терагерцовом диапазоне содержит перестраиваемый по частоте источник монохроматического излучения, первую пропускающую дифракционную решетку и вторую пропускающую дифракционную решетку. Вторая решетка оптически параллельно связана с прерывателем светового потока и первым плоским зеркалом. Первое плоское зеркало связано с...
2650698![Интерферометр для определения показателя преломления инфракрасной поверхностной электромагнитной волны Интерферометр для определения показателя преломления инфракрасной поверхностной электромагнитной волны](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a7fa44babd2f4777ed57f4c22fd465c0.jpg)
Интерферометр для определения показателя преломления инфракрасной поверхностной электромагнитной волны
Изобретение относится к области оптических измерений и касается интерферометра для определения показателя преломления инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ). Интерферометр содержит источник коллимированного p-поляризованного монохроматического излучения, элемент преобразования излучения в ПЭВ, твердотельный образец с плоской гранью, способной направлять ПЭВ, делитель пучка ПЭВ, пл...
2653590