Панявин Владимир Викторович (RU)
Изобретатель Панявин Владимир Викторович (RU) является автором следующих патентов:
Способ тестирования оперативных запоминающих устройств
Изобретение относится к вычислительной технике. Технический результат заключается в обеспечении одинаковой и прогнозируемой эффективности обнаружения константных неисправностей и неисправностей, обусловленных информационным взаимовлиянием элементов памяти, в ОЗУ с произвольной организацией. Способ тестирования ОЗУ путем использования Р-разрядного генератора псевдослучайных чисел на основе цикличе...
2455712