Снигирев А.А.

 Способ измерения деформации кристаллической структуры поверхностных слоев в контролируемом образце, включающий измерение угловой зависимости дифрагированной волны многокристальным рентгеновским дифрактометром и определение деформации по этой зависимости, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности, изготавливают тестовый образец из того же материала и по технологии, полност...

 Устройство для фокусировки расходящегося пучка рентгеновского излучения в точечный фокус, содержащее два линейно фокусирующих элемента, установленных с возможностью поворота на взаимно перпендикулярных осях, средства поворота и линейного перемещения оси с вторым по ходу фокусируемого пучка фокусирующим элементом относительно оси с первым фокусирующим элементом вдоль линии, проходящей чере...

 Использование: изучение процессов формирования слабых искажений кристаллической структуры поверхностных слоев. Сущность изобретения: измеряют угловую зависимость дифрагированной волны от монокристаллического образца с периодическими нарушениями поверхностного слоя на двухкристальном рентгеновском дифракторе , у которого отношение размера f фокуса источника к расстоянию от источника до обр...

 Использование: изобретение относится к области изготовления оптических элементов, в частности линз для рентгеновских приборов (рентгеновские дифрактометры микроскопы, телескопы и т. д.), применяемых в диапазоне 6 кэВ (жесткое рентгеновское излучение). Сущность изобретения: линза содержит полированную монокристаллическую пластину из германия с профилем поверхности в виде френелевской стру...