Аюпов Б.М.

 Изобретение предназначено для измерения радиуса кривизны полированных полупроводниковых пластин. Цель изобретения расширение диапазона измерений. С помощью микроскопа измеряют расстояние между световыми точками, являющимися проекциями на экран разделенных лучей, отраженных поочередно от исследуемой и эталонной пластин, располагаемых в держателе, установленном между системой призм, предназ...

 1. Способ получения рисунка на поверхности, включающий нанесение функционального рентгеночувствительного слоя на подложку, экспонирование рентгеновским излучением через рентгеношаблон, проявление скрытого позитивного и/или негативного изображения, отличающийся тем, что в качестве функционального рентгеночувствительного слоя наносят вакуумно-термическим методом слой фталоцианинов металлов....