Чернобровин Н.Г.

 Способ отбраковки дрейфовых транзисторов, включающий подачу напряжения питания, измерение тока в цепи коллектор - эмиттер и сравнение его с эталоном, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности отбраковки, напряжение питания подают высокочастотным и синусоидальным на фиксированной частоте при отключенном базовом выводе транзистора, затем амплитуду высокочастотного синусоидально...

 Устройство для отбраковки мощных транзисторов, содержащее клемму для подключения коллектора испытуемого транзистора, клемму для подключения эмиттера испытуемого транзистора, соединенную с выходом стабилизатора тока и входом дифференцирующей цепи, выход которой подключен к входу блока формирования импульсов, клемму для подключения базы испытуемого транзистора, соединенную с общей шиной, кл...

 Устройство для отбраковки дрейфовых транзисторов, содержащее генератор высокочастотного синусоидального напряжения, клемму для подключения коллектора испытуемого транзистора и клемму для подключения эмиттера испытуемого транзистора, которая соединена с первым выводом резистора и через конденсатор - с общей шиной устройства, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности отбра...

 Способ отбраковки биполярных транзисторов, включающий приложение напряжения питания между коллектором и эмиттером транзистора, измерение тока и сравнение его с допустимым значением, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности способа, между коллектором и эмиттером прикладывают высокочастотное напряжение и увеличивают его амплитуду до лавинообразного открывания транзистора, посл...

 Использование: исследование и измерение параметров приборов с S-образной вольт-амперной характеристикой (ВАХ). Сущнось изобретения: характерные точки ВАХ в автоматическом режиме заносятся в регистры и индицируются. Выделение характерных точек производится с помощью цифрового компаратора. 1 з.п. ф-лы, 4 ил. Изобретение относится к электронной технике и предназначено для исследований и изме...

  Использование: электронная техника. Сущность изобретения: на испытуемую интегральную схему (ИС) подают входную тестовую последовательность с амплитудой, равной напряжению питания ИС и соответствующей критическому уровню. По величинам отклонения времени распространения данной ИС от среднего значения при включении, либо выключении ИС от установленного критерия производят отбраковку ИС по н...