PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Сенкевич М.М.

Изобретатель Сенкевич М.М. является автором следующих патентов:

Приспособление к измерительному микроскопу для проверки расстояния штриха от рабочей кромки на измерительных ножах

Приспособление к измерительному микроскопу для проверки расстояния штриха от рабочей кромки на измерительных ножах

  Класс 42 h, 34 j+o =) Д f11 7, описдник изовреткния К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ, ВЫДАННОМУ НАРОДНЫМ КОМИССАРИАТОМ ТЯЖЕЛОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ Зарегистрировано в Государственном бюро последующей регистрации изобретений при Госплане CCCP М. М. Сенкевич. Приспособление к измерительному микроскопу для поверки расстояния штриха от рабочей кромки на измерительных ножах. Заявлено 11 апреля...

50962