СУВОРОВ А.Л.

  ОПИСАНИЕ ИЗОБР ЕТЕ Н ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 111> 4I3849 Сове Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 27.12.71 (21) 1730485/23-5 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 15.01.76. Бюллетень Хе 2 Дата опубликования описания 14.04.76 (51) М. Кл.- "С 08G 79, 00 С 08G 77/48 Государственный комитет Совета Мнннстров...

  СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МИКРО- ОСТРИЙ из металлической проволоки, включающий электрохимическое травление средней части заготовки в Тонком слое электролита и автоматическое прекращение травл^ения при обрыве образующейся "шейки", отличающийся тем, что, с целью уменьщения и регулировки радиуса кривизны поверхностей микроострий и улучшения их качества, во время травления вдоль заготовки ч...

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик ()852101 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 24.03. 80 (21) 2894251/18-21 с присоединением заявки ¹â€” (23) ПриоритетОпубликовано 071182. Бюллетень № 41 Дата опубликования описания 071182 Р М К,т з Н 01 J 37/285 Государственный комитет СССР но делам изобретений и. открыт...

  СПОСОБ АВТОИОННОМИКРОСКОПИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ТОЧЕЧНЫХ ДЕФЕКТОВ В МЕТАЛЛАХ включающий непрерьгоное испарение полем поверхностных атомов образца и кинематографическую регистрацию формируемых автоионных изображений, отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа при идентификации единичных точечных дефектов в металлах,; регистрацию изображения проводят со скоростью, превьшаю...

  СПОСОБ АВТОИОННОМИКРОСКОПИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ МЕТАЛЛОВ, включающий облучение игольчатого образца иона№1 газа непосредственно в автойоннс микроскопе с помощью расположенного напротив него игольчатой формы источника бомбардирующ цс частиц, получение автоионного изображения поверхности образца на флуоресцентном экране, идентификацию на нем единичных междоузельных атомов и рас .чет...

  АВТОЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОПАНМШЗАТОР , содержащий установленную в держателе вакуумную камеру, расположенные внутри камеры образец-острие , флуоресцирующий экран-индикатор анод с зондовьм отверстием и коллектор электронов, о т л и ч а ю щ и нс я тем, что, с целью повышения информативности анализа за счет измерения флуктуации автоэлектронного тока, экран-индикатор выполнен в виде дис...

  СПОСОБ АВТОИОННОМИКРОСКОПИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПРОФИЛЕЙ ПРОБЕГОВ ИМПЛАНТИРОВАННЫХ В МЕТАЛЛЫ ИОНОВ, тг-« включающий последовательное импульс-нов испарение образца электрическим полем, регистрацию имплантированных ионов, удаленных за время одного испаряющего импульса, и определение профиля пробега ионов по их суммарному числу за число импульсов, соответствующее удалению одного, атомно...

  АВТОИОННЫЙ МИКРОСКОП, содержащий внутри вакуумной камеры объектодержатель, подвижный металлический зонд с отверстием и флуоресцирующий экран, а также систему напуска изображающего газа, отличающийся тем, что, с целью увеличения производительности и информативности анализа за счет использования образцов в виде фольги, объектодержатель выполнен в виде цилиндрической обоймы, а зонд...

  Изобретение относится к области испытания электропроводных конструк ционных материалов и может быть использовано при изучении протекания коррозионного процесса на его ранней стадии. Цель изобретения - повышение точности определения скорости корро зии на ранней стадии коррозионного процесса за счет изменения тока автоэлектронной эмиссии при незначительном изменении массы и геометр...

  Изобретение относится к радиационной физике твердого тела и может быть использовано, в частности, для определения энергетических параметров межузельных атомов в металлах методом автоионной микроскопии Способ заключается в следующем: облучают образцы - острия в автоионном микроскопе собственными ионами энерги СО10Э СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК „„SU„„ l405623 А1 (51)5...