PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ТОМАШПОЛЬСКИЙ ЮРИЙ ЯКОВЛЕВИЧ

Изобретатель ТОМАШПОЛЬСКИЙ ЮРИЙ ЯКОВЛЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ изготовления сегнетоэлектрических пленок

Способ изготовления сегнетоэлектрических пленок

  ge.о о нт-„-.. тьн о:ОПИ .е ИЕ ЙЗОБРЕТЕН ИЯ (ii) 437813 Союз Советсиии Социалистических Рес пу бпик И АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (б1) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 17.03,72 (21) 1759913/26-9 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 30.07.74. Бюллетень № 28 Дата опубликования описания 09.01.75 (51) М, Кл. С 23с 13/04 государственный комитет Совета...

437813

Устройство для изменения режимов работы электронного микроскопа

Устройство для изменения режимов работы электронного микроскопа

  < ц 519788 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сова Советскиа Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) 3 аявлено 06.06.74 (21) 2034065/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 30.06.76. Бюллетень № 24 Дата опубликования описания 21.07.76 (51) М, Кл. - Н 01 J 37/26 Государственный комитет Совета Министров СССР (53) УДК...

519788

Способ измерения поверхностной концентрации кислорода в оксидах /его варианты/

Способ измерения поверхностной концентрации кислорода в оксидах /его варианты/

  1. Способ измерения поверхностной концентрации кислорода в оксидах методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, отличающийся тем, что, с целью повьшения точности, чувствительности и экспрессности анализа нестехиометрических диэлектрических оксидов, производят измерение сдвига спектральных линий любого элемента образца при зарядке его поверхности вследствие фотоэлектронной...

1182361

Способ определения температуры поверхности

Способ определения температуры поверхности

  Изобретение относится к температурным измерениям и позволяет измерить температуру поверхности образцов в фотоэлектронном спектрометре с помощью фотоэлектронных спектров. Для этого перед воздействием рентгеновского излучения на исследуемую поверхность устанавливают диэлектрический датчик, приводя его в тепловое равновесие с ней,и регистрируют фотоэлектронный спектр датчика, а темп...

1255874

Способ выявления восстановительной среды минералообразования в магме

Способ выявления восстановительной среды минералообразования в магме

  Изобретение относится к геологии и предназначено для минералогии. Цель изобретения - повьшение точности и расширение информативности способа . Для этого производят отбор проб стекол или кристаллов главных породоразрушагощих минералов. Разрушают стекла или кристаллы минералов до вскрытия внутренних зон. Выявляют в них восстановленные формы элементов Fe, Si, Ti путем послойного ска...

1326970


Способ определения качества высокотемпературных сверхпроводящих материалов

Способ определения качества высокотемпературных сверхпроводящих материалов

  Изобретение относится к области анализа элементного состава оксидных высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП) и предназначено для установления содержания кислорода с помощью физических методов . Цель изобретения - повышение экспрессное™ и осуществление неразрушающего контроля. Объект облучают электронами с энергией 18-22 кэВ. Регистрируют интенсивность истинновторичных электро...

1702269

Способ выявления восстановительной среды минералообразования в магме

Способ выявления восстановительной среды минералообразования в магме

  Изобретение относится к способам обнаружения геологических объектов с применением электронной микроскопии и может быть использовано в минералогии, геологии для выявления флюидного восстановительного режима в магме в период кристаллообразования . Целью изобретения является повышение чувствительности, упрощение и удешевление способа. Отбирают пробы стекол и кристаллов главных пород...

1728743