КУТЛИН НАРИМ ХАЗЕЕВИЧ
Изобретатель КУТЛИН НАРИМ ХАЗЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
![С-структура с распределенными параметрами С-структура с распределенными параметрами](https://img.patentdb.ru/i/200x200/29061f6ddaa7066fb401ad9ea6f12364.jpg)
С-структура с распределенными параметрами
пп 438"О,54 ОПИСАНИЕ :""" """ ИЗОБР ЕТЕ Н ИЯ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 30.01.73 (21) 1880713/26-9 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 30.07.74. Бюллетень №,28 Дата опубликования описания 11.02.75 (51) М. Кл. Н 01g 1/00 Н Olc 7/00 Государственный комите1 Совета Министров СССР по делам иэаоретений и открытий (53) УДК 621.396.6-181.5...
438054![Устройство для подгонки сопротивления пленочных резисторов Устройство для подгонки сопротивления пленочных резисторов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d2eb4606750cf3ed89717641fd96fd9a.jpg)
Устройство для подгонки сопротивления пленочных резисторов
кателем и источник электрической энергии в виле генератора, подключенного к рабочему электроду. Известные устройства содержат сложный источник электрической энергии — высокочастотный генератор — и не позволяют производить юстировку резисторов непосредственно в процессе работы схемы. Цель изобретения — упрощение конструкции и обеспечение юстировки непосредственно в проц...
476609![Способ контроля надежности элементов радиоэлектронной аппаратуры Способ контроля надежности элементов радиоэлектронной аппаратуры](https://img.patentdb.ru/i/200x200/689ba156f77e106eafa40dddfb2750e4.jpg)
Способ контроля надежности элементов радиоэлектронной аппаратуры
Изобретение относится к радиоэлектронике и может быть использовано при неразрушающем контроле качества и надежности электронных компонентов. Цель изобретения - повышение достоверности контроля. Источник 1 постоянного тока через ключ 2 задает ток в контролируемом элементе 3, установленном в фиксаторе 4 и подвергаемом упругой деформации с помощью блока 11 формирования деформирующей...
1596287![Устройство для определения адгезии Устройство для определения адгезии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9c02c5b37b543978db94c9acab4c603f.jpg)
Устройство для определения адгезии
Изобретение относится к средствам испытания изделий электронной техники и может быть использовано для определения адгезии проводящих или полупроводниковых пленок. Цель изобретения - расширение эксплуатационных возможностей путем обеспечения возможности проведения неразрушающего контроля. При отсутствии лазерного луча и при протекании через исследуемый элемент электрического тока...
1696972