PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КУТЛИН НАРИМ ХАЗЕЕВИЧ

Изобретатель КУТЛИН НАРИМ ХАЗЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

С-структура с распределенными параметрами

С-структура с распределенными параметрами

  пп 438"О,54 ОПИСАНИЕ :""" """ ИЗОБР ЕТЕ Н ИЯ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 30.01.73 (21) 1880713/26-9 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 30.07.74. Бюллетень №,28 Дата опубликования описания 11.02.75 (51) М. Кл. Н 01g 1/00 Н Olc 7/00 Государственный комите1 Совета Министров СССР по делам иэаоретений и открытий (53) УДК 621.396.6-181.5...

438054

Устройство для подгонки сопротивления пленочных резисторов

Устройство для подгонки сопротивления пленочных резисторов

  кателем и источник электрической энергии в виле генератора, подключенного к рабочему электроду. Известные устройства содержат сложный источник электрической энергии — высокочастотный генератор — и не позволяют производить юстировку резисторов непосредственно в процессе работы схемы. Цель изобретения — упрощение конструкции и обеспечение юстировки непосредственно в проц...

476609

Способ контроля надежности элементов радиоэлектронной аппаратуры

Способ контроля надежности элементов радиоэлектронной аппаратуры

  Изобретение относится к радиоэлектронике и может быть использовано при неразрушающем контроле качества и надежности электронных компонентов. Цель изобретения - повышение достоверности контроля. Источник 1 постоянного тока через ключ 2 задает ток в контролируемом элементе 3, установленном в фиксаторе 4 и подвергаемом упругой деформации с помощью блока 11 формирования деформирующей...

1596287

Устройство для определения адгезии

Устройство для определения адгезии

  Изобретение относится к средствам испытания изделий электронной техники и может быть использовано для определения адгезии проводящих или полупроводниковых пленок. Цель изобретения - расширение эксплуатационных возможностей путем обеспечения возможности проведения неразрушающего контроля. При отсутствии лазерного луча и при протекании через исследуемый элемент электрического тока...

1696972