АЛЕКСАНДРОВ ВЛАДИМИР КУЗЬМИЧ
Изобретатель АЛЕКСАНДРОВ ВЛАДИМИР КУЗЬМИЧ является автором следующих патентов:
![Штамп для формовки изделий с фланцем Штамп для формовки изделий с фланцем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/11f929e11b70d9bdb596fd299b6ffd1d.jpg)
Штамп для формовки изделий с фланцем
О П И С А Н И Е (п) 456663 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) 3 а в и си M ое от а вт. с в идстел ьств а (22) Заявлено 14.04.71 (21) 1654451/25-27 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 15.01.75. Бюллетень J¹ 2 Дата опубликования описания 24.02.75 (21) М. Кл. В 21d 22/02 Гасударственный комитет Совета Мини...
456663![Способ контроля линейных размеров микрообъектов Способ контроля линейных размеров микрообъектов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f0a8ebb931db93894b027487f2c689cb.jpg)
Способ контроля линейных размеров микрообъектов
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистических Республик ОЦ 612148 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22} Заявлено26.03.76 (21) 2341632/25-28 с присоединением заявки №(23) Приоритет(43) Опубликовано 25.06,78Бюллетень № 23 (46) Дата опубликования описания tK ОО то (53) М. Кл. (v 01 В 11/08 Гасуда рстаеннмй комитет Совета Мнннотроа СССР IIo...
612148![Способ контроля линейных размеров микрообъектов Способ контроля линейных размеров микрообъектов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7d84d11fdacbf292c11530d919832457.jpg)
Способ контроля линейных размеров микрообъектов
Союз Советскик Социвпистическик Республик О П И С А Н И Е (742705 ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Ф S / =-:--. -К (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 10. 10,77 (21) 25397 15/18-28 с присоединением заявки РЙ (23) П риоритет— Опубликовано 25.06.80. Бюллетень № 23 Дата опубликования описания 27.06.80 (51 ) М. Кл. G 01 В 11/02 Гасударстеенный к...
742705![Способ контроля линейных размеров периодических микроструктур Способ контроля линейных размеров периодических микроструктур](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3c350d4999888428968458728dd569bf.jpg)
Способ контроля линейных размеров периодических микроструктур
Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 765651 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 19.12.78 (21) 2699558/25-28 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 2309,80. Бюллетень ¹ 35 Дата опубликования описания 25. 09. 80 {51) М. Кл.З G 01 В 11/08 Гооударстееииый комитет ао делам изобретений и откры...
765651![Устройство контроля шага микро-структур Устройство контроля шага микро-структур](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ba7caa1c8f573ed78fb8c228907cad0a.jpg)
Устройство контроля шага микро-структур
Союз Севетскик Сециалистнческик Рк публик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ 1807045 К АВТОРСКОМУ СВ ТВЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (51)М. Кд 3 Я 01 В 7/02 (22) Заявлено 16,05. 79 (21) 2765930/18-28 с присоединением заявки Ио— Государствекяый комитет СССР IIo докам изобретений я открытий (23) Приоритет Опубликовано 2302.81. Бюллетень N 7 Дата опубликования описания 23. 02....
807045![Способ контроля линейных размеровмикрооб'ектов Способ контроля линейных размеровмикрооб'ектов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9d9f87ac6d00974a5e0ad205c97a54b0.jpg)
Способ контроля линейных размеровмикрооб'ектов
АНИЕ Союз Советскик Социалистические Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву № 612148 (22) Заявлено 07.05.79 (21) 2763203/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— Опубликовано 15.06.81. Бюллетень № 22 Дата опубликования описания 25.06.81 (51) М. К.. G 01 В 11/08 Гееуддрстеенный кемнтет ло делам нзобретеннй н атнрмтнй (53) УДК 531.7...
838326![Способ контроля диаметра микропроволоки Способ контроля диаметра микропроволоки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/16dd1dadc5e9b7250d562fa9f7386f6a.jpg)
Способ контроля диаметра микропроволоки
В,К. Александров, В.Н. Ильин и С.В.j Прядченко-.-. ( (72) Авторы изобретения Институт электроники АН Белорусской (71) Заявитель (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ДИАМЕТРА МИКРОПРОВОЛОКИ Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности для контроля диаметра микрспроволокие Известен фотоэлектрический способ контроля диаметра микропроволоки, зак...
859807![Устройство для контроля поперечного сечения объекта Устройство для контроля поперечного сечения объекта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3b7b1605b1c220c067a7f6f4d0e78d65.jpg)
Устройство для контроля поперечного сечения объекта
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистнческнк Республик
945649![Способ для контроля геометрических размеров протяженных объектов и устройство для его осуществления Способ для контроля геометрических размеров протяженных объектов и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9b25c9425397f15301fd56b3264f458e.jpg)
Способ для контроля геометрических размеров протяженных объектов и устройство для его осуществления
1. Способ для контроля геотлетрических размеров протяженных объектов , заключающийся в том, что формк руют лазерный луч, делят его на два параллельных между собой и образующих измерительную зону световых потока , производят сканирование объекта , формируют в моменты перекрытия объектом каждого из двух световых потоков импульсы фототока, о т л ич а ю щ и и с я тем, что, с целью по...
1017918![Способ контроля диаметра микропроволоки и устройство для его осуществления Способ контроля диаметра микропроволоки и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/bb2bbf4d812f092e797cf5394a86a7e5.jpg)
Способ контроля диаметра микропроволоки и устройство для его осуществления
1. Способ контроля диаметра микропроволоки, заключающийся в том, что получают световой пучок с круговой симметрией, размещают на его пути контролируемую микропроволоку, формируют увеличенное изображение участка микропроволоки, сканируют изображение в поперечном направлении, раздваивают его на два полуконтрастных , из которых одно - прямое, а другое - повернутое на 180, регисФриру...
1096493![Способ контроля поперечного размера протяженного объекта Способ контроля поперечного размера протяженного объекта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/1870a5f9a0451234acb466860e40ea22.jpg)
Способ контроля поперечного размера протяженного объекта
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПОПЕРЕЧНОГО РАЗМЕРА ПРОТЯЖЕННОГО ОБЪЕКТА, заключающийся в том, что освещают объект пучками лучей, формируют увеличенное теневое изображение объекта, сканируют теневое изображение объекта в направлении, перпендикулярном линии визирования, разделяют теневое изображение объекта на два изображения , перемещающихся в процессе сканирования навстречу одно другому в плоск...
1133482![Оптико-электронное устройство контроля литейных размеров объектов Оптико-электронное устройство контроля литейных размеров объектов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/045b692f724d5634fb0b053b16cd0dfc.jpg)
Оптико-электронное устройство контроля литейных размеров объектов
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к оптико-электронным устройствам для контроля линейных размеров объектов. Целью изобретения является повьшение точности контроля за счет частичной компенсации угла дифракции светового пучка- 1 -го дифракционного максимума от первой дифракционной решетки и обеспечения растрового сопряжения решеток с от 5 до 1.0 мкм, уста-...
1241063![Способ контроля диаметра микропроволоки Способ контроля диаметра микропроволоки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8b3b2c93a0c906ab9916cd705295a669.jpg)
Способ контроля диаметра микропроволоки
Изобретение относится к измерительной текнике. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей за счет измерения поворота микропроволоки относительно нормали к направлению сканирования. Пучок света , формируемый лазером 1, расщепля (Л ю г оо ел 05 оо гч СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ SU 12 85...
1298533![Способ измерения диаметров и межосевого расстояния отверстий Способ измерения диаметров и межосевого расстояния отверстий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0b84d3e0acae856b1f54bc6dcd94be59.jpg)
Способ измерения диаметров и межосевого расстояния отверстий
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники. Цель изобретения - повышение информативности и точности из.мерений за счет исключения интегральной оценки интерференционной картины и влияния изменений и неравномерности распределения мощности лазерного луча. Сущность способа заключается в том, что коллимированный луч лазера 1 при помощи светоделителя 3 разделяют н...
1308835![Способ измерения отклонений от соосности отверстий Способ измерения отклонений от соосности отверстий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7cdc58f06e5d40e23bbdceef7a5192ac.jpg)
Способ измерения отклонений от соосности отверстий
Изобретение относится -к измерительной технике, в частности к фотоэлектрическим способам измерения соосности отверстий . Целью изобретения является повышение точности измерения отклонения от соосности отверстий относительно и.х общей оси путем получения .минимумов интенсивности в центре дифракционных картин. Формируют пучок с плоским волновым фронтом, распространяюшийся вдоль оси...
1352200![Способ контроля шага резьбы ходовых винтов Способ контроля шага резьбы ходовых винтов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f4b112c73ad7d5a73a78f81ded282062.jpg)
Способ контроля шага резьбы ходовых винтов
Изобретение относится к контг -- рольно-измерительной технике и точному приборостроению. Цель изобретения - повышение точности и производительности контроля шага резьбы ходовых винтов за счет исключения погрешности контактирования механического щупа с по верхностью ходового винта и увеличения скорости измерения. Способ заключается в установке винта в центрах передней и задней баб...
1368629![Способ определения диаметра отверстий Способ определения диаметра отверстий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7fbe08691093e956611df3b8c3628ede.jpg)
Способ определения диаметра отверстий
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частг нести к фетоэлектрическим способам контроля диаметра отверстий. Целью изобретения является повышение точности измерения диаметра за счет исключения влияния на точные измерения . величины диаметра. Для этого освещают объект с контролируемым отверстием коллимированным пучком монохроматического излучения и за отверсти...
1413415![Устройство для измерения перемещения объекта Устройство для измерения перемещения объекта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/41df63a13a0756e457432c300139bfef.jpg)
Устройство для измерения перемещения объекта
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения перемещений деталей приборов и узлов станков. Целью изобретения является повышение информативности за счет измерения перемещения объекта по двум координатам и повышение точности за счет уменьшения эффективного шага дифракционной решетки. Излучение лазера проходит коллиматор и попадает на светодел...
1534298![Способ контроля шага резьбы ходовых винтов Способ контроля шага резьбы ходовых винтов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f1b06216a8674e513a258b02bfbf1a38.jpg)
Способ контроля шага резьбы ходовых винтов
Изобретение относится к измерительной технике, a именно к бесконтактным оптическим средствам и методам , измерения шага резьбы, и может быть использовано для контроля шага винтовой поверхности прецизионных ходовых винтов. Цель изобретения - расширение области применения способа для контроля также и внутришаговой погрешности. Это достигается вращением винта 7 с одновременным форми...
1645813![Устройство для контроля диаметра световодов и оптических волокон Устройство для контроля диаметра световодов и оптических волокон](https://img.patentdb.ru/i/200x200/cc27e1bb2deeb26fdba35e3c58908c01.jpg)
Устройство для контроля диаметра световодов и оптических волокон
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и предназначено для измерения диаметра прозрачных оптических волокон и одножильных световодов. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет исключения влияния флуктуации длины волны излучения, атмосферного давления и температуры окружающей среда. От лазера 1 освещают радиальный растр 3, который вращается с равномер...
1649257![Устройство контроля соосности пролетных каналов электронно- оптических систем Устройство контроля соосности пролетных каналов электронно- оптических систем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8b3538f5a5d46eea9e21e669d92d814c.jpg)
Устройство контроля соосности пролетных каналов электронно- оптических систем
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является повышение точности контроля путем исключения влияния нестабильности мощности излучения источника и положения пучка в пространстве, неравномерности распределения энергии в его пучке и нестабильности характеристик фотоприемника. Это достигается тем, что световой поток лазера 1 делится на опорный и и...
1670413![Способ контроля линейных размеров микропроволоки Способ контроля линейных размеров микропроволоки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/bf27d6ba0d58fc3126474bcb9b0c32c5.jpg)
Способ контроля линейных размеров микропроволоки
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, в частности к оптико-электронным способам измерения поперечных размеров протяженных микрообъектов , например микропроволок. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей способа за счет обеспечения контроля толщины покрытия в процессе его нанесения. Освещают параллельным световым потоком микрообъект, пол...
1776986