СЕДОВ АНАТОЛИЙ НИКОЛАЕВИЧ
Изобретатель СЕДОВ АНАТОЛИЙ НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для интерференционных измерений Устройство для интерференционных измерений](https://img.patentdb.ru/i/200x200/bb8d8bf236e86f9c99a9d8db2589b157.jpg)
Устройство для интерференционных измерений
(и) 458707 ОПИС ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 28.02.72 (21) 1752878 25-28 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 30.01.75. Бюллетень № 4 Дата опубликования описания 18.03.75 (51) М. Кл. G 01Ь 11/26 осударственный комитет Совета Министров СССР по делам изобр...
458707![Способ определения концентрации примесей в полупроводниковой пластине Способ определения концентрации примесей в полупроводниковой пластине](https://img.patentdb.ru/i/200x200/bfa29b0a82135308b7e650eafc4b4340.jpg)
Способ определения концентрации примесей в полупроводниковой пластине
ОП ИСАНГИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ и) 480029 Союз Советских Социалистических Республик Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 21.07.72 (21) 1812117/26-25 с присоединением заявки— (23) Приоритет— Опубликовано 05.08.75. Бюллетень № 29 Дата опубликования описания 25.03.76 (51) М, Кл, С 01г31/26 Государственный комитет Совета Министров СССР по д...
480029![Способ определения длины волны светофильтра Способ определения длины волны светофильтра](https://img.patentdb.ru/i/200x200/bdcc2807272ac59bac0c3e7bd7e9a3c8.jpg)
Способ определения длины волны светофильтра
Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ„„ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 16.02.73(21) 1883838/25 с присоединением заявки №(23) Приоритет (43) Опублнковано05.03.77.Бюллетень № 8 (45) Дата опубликования описания 26.04.77 (ы) м. к Я 01 3 3/28 Гасударственный комитет Совета Министров СССР ао делам изобретений и...
549686![Гидравлический привод Гидравлический привод](https://img.patentdb.ru/i/200x200/62177aab69e1f93f2364a08d85ba76d4.jpg)
Гидравлический привод
б.,бл Qtå э ОЛИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ фф Ял. к 1 (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.09.76 (21) 2401432/25-06 с присоединением заявки ¹ (51) М. Кл. F 15В 15/00 Государственный комитет (23) Приоритет Совета Министров СССР (43) Опубликовано 30.10.78. Бюллетень № 40 по дела..л изобретений (53) УДК...
630463![Способ определения разнотолщинности прозрачной в видимой области спектра пленки, нанесенной на отражающую подложку Способ определения разнотолщинности прозрачной в видимой области спектра пленки, нанесенной на отражающую подложку](https://img.patentdb.ru/i/200x200/95f53ba2e82ceaebebb2b800661d36cb.jpg)
Способ определения разнотолщинности прозрачной в видимой области спектра пленки, нанесенной на отражающую подложку
8) Ю. И. Урывский, К. A. Лаврентьев, А. А. Чуриков и А. Н. Седов t (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗНОТОЛЩИННОСТИ ПРОЗРАЧНОЙ В ВИДИМОЙ ОБЛАСТИ СПЕКТРА ПЛЕНКИ, НАНЕСЕННОЙ НА ОТРАЖАЮЩУЮ ПОДЛОЖКУ Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и экспресс-анализу технологических процессов и материалов, применяемых в фотолитограф и, и може...
859806![Катод прямого накала Катод прямого накала](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3983c32059ebc4ead70fef38ec689326.jpg)
Катод прямого накала
(72) Авторы изобретения А.А. Лучин, A.Н. Седов, H.Н. Кузнецова, )ТЛ3-.:-Корочкина и И.В. Кондратьева 1 . 1 (7l) Заявитель 154) КАТОД ПРЯМОГО НАКАЛА Изобретение относится к электронной мехнике, преимущественно к катодам для ЭВП. Известны катоды прямого накала для ЭВП в виде проволоки или ленты, покрытые, например, слоем оксида, тол- 5 щиной 60-100 мкм. В этом случае раз\ ме...
873302![Высоковольтный стабилизатор напряжения компенсационного типа Высоковольтный стабилизатор напряжения компенсационного типа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7b721707b6b58fc991ce37c58cce8bc8.jpg)
Высоковольтный стабилизатор напряжения компенсационного типа
ОП ИСАНИЕ ИЗЬВРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (iii928324 Союз Советских Социалистических Республик (6I ) Дополнительное к авт. свил-ву (22) З 07. 04. 80 (21) 2Э05887/2Ц-07 с присоединением заявки РЙ(23) Приоритет(5I)M. Кл. G 05 F 1/58 3Ъеударстеенньй комитет СССР No делеи изабретенкхй н открытий Опубликовано 15.05:SZ. Бюллетень ¹18 Дата опубликованмя описания 15.05.8...
928324![Лазерный профилограф Лазерный профилограф](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a7476bfd807a6f2516c93de9529415c0.jpg)
Лазерный профилограф
ЛАЗЕРНЫЙ ЙРОФИЛОГРАФ,: Сидержащий лазер и расположенные по ходу луча лазера два светоделителя., блок сканирования луча лазера, индикатор луча лазера, координатночувствительный приемник, визир и; Предметный столик, от л и ч а ю щ и йен тем, что, с целью упро- . щения конструкции и возможности контроля профиля по двум координатам , блок сканирования выполнен в виде двух четырехгран...
1058875![Координатно-чувствительное устройство Координатно-чувствительное устройство](https://img.patentdb.ru/i/200x200/598ec841b7ed3829e832b690b50c17e5.jpg)
Координатно-чувствительное устройство
КООРДИНАТНО-ЧУВСТВИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО, содержащее светоделитель И фотоприемники, о т ли чающееся тем, что, с целью повыiiteHHjt точности и конструкции , светоделитель выполнен в виде четырех светоделительных пластин с коэффициентами отражения светового потока соответственно 0,25 0,33, 0,5} 1,0, последовательно установленных по ходу светового потока, а между этими пластинами и фот...
1081611![Устройство для контроля неплоскостности поверхностей Устройство для контроля неплоскостности поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0b291a579e1d34479ea0d4bfa85da32e.jpg)
Устройство для контроля неплоскостности поверхностей
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ НЕГШОСКОСТНОСТИ ПОВЕРХНОСТЕЙ, содержащее источник излучения и установленные последовательно сканирзтащий блок, выполненный в виде зеркала с приводом, интерферометр, регистратор , аналого-цифровой преобразователь ЭВМ и блок управления, о т л ичающееся тем, что, с целью повышения производительности контроля , оно снабжено тремя блоками измерения параметро...
1096491![Устройство для ввода информации в процессор Устройство для ввода информации в процессор](https://img.patentdb.ru/i/200x200/143d433ff2d312859e3f831216b56c4d.jpg)
Устройство для ввода информации в процессор
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВВОДА ИНФОРМАЦИИ В ПРОЦЕССОР, содержащее группу регистров, соединенных последовательно , информационный вход первого регистра является информационным входом устройство, информационный выход которого через коммутатор соединен с выходом последнего регистра группы, узел начальной установки, выход которого соединен с первыми входами злементов И первой группы, выход каж...
1156081![Устройство для контроля плоскостности поверхности изделий, преимущественно полупроводниковых пластин Устройство для контроля плоскостности поверхности изделий, преимущественно полупроводниковых пластин](https://img.patentdb.ru/i/200x200/48c5aaab50e949971e52ec94013d5ef9.jpg)
Устройство для контроля плоскостности поверхности изделий, преимущественно полупроводниковых пластин
Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - возможность контроля пластин большого диаметра за счет уменьшения монохроматических аберраций (астигматизма ) . Контролируемую полупроводниковую пластину 12 размещают на предметном столике 4 и фиксируют ее.Включают лазер 1 и приводы вращения четьфехгранной призмы 5 и предметного столика 4. Излучение лазера 1 посред...
1260678![Двухпозиционный предметный столик Двухпозиционный предметный столик](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e09cf2941472240e9e96b28d44013e6d.jpg)
Двухпозиционный предметный столик
СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (504 G 02 В 21 26 1 ф; ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ASTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ j 1:- .1 ВМ"10 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3867043/24-10 (22) 15. 03. 85 (46) 07. 11. 86. Бюл. 1"- 41 (72) А. Н. Седов (53) 535.823(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР Ф 862103, кл. G 02 В 21/26, 1981 Микроскопы./Под...
1269075![Устройство для измерения толщины оптически прозрачных пленок Устройство для измерения толщины оптически прозрачных пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9b4a6ea84797d32db8692c67ae8ff030.jpg)
Устройство для измерения толщины оптически прозрачных пленок
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля толщины эиитаксиальных пленок Цель изобретения - повышение точности и быстродействия измерения - достигается обеспечением работы интерферометра в сходящихся пучках, что позволяет уменьшить размеры оптических деталей интерферометра . Измеряемый образец помещают на предметньй столик 7. От источника 2...
1374043![Способ определения разнотолщинности пленки Способ определения разнотолщинности пленки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8e390b57569018fd4069b3fc5ab8eee6.jpg)
Способ определения разнотолщинности пленки
Изобретение относится к измерительной технике и 1иожет быть использовано для определения разнотолщинности фоторезистивных пленок, нанесенных на отражающие полупроводниковые подложки. Целью изобретения является повышение точности. Свет от источника 1 проходит через конденсор 2, светофильтр 3, линейный поляризатор 4 и под определенным углом падает на пленку 9, отражаясь от которой,...
1401267![Сканирующий предметный столик для систем автоматического контроля параметров полупроводниковых пластин Сканирующий предметный столик для систем автоматического контроля параметров полупроводниковых пластин](https://img.patentdb.ru/i/200x200/658dbb9c79e82caca41ef71e639d56fc.jpg)
Сканирующий предметный столик для систем автоматического контроля параметров полупроводниковых пластин
Изобретение относится к приборостроению и предназначено для использования в системах автоматического контроля полупроводниковых пластин в массовом производстве. Цель изобретения - повышение быстродействия и точности позиционирования пластины. Блок 14 управления включает приводы 12, 13, которые осуществляют перемещение пластины 11 по осям X, Y. Далее сигнал с блока 14 управления по...
1536344