PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ХАБИБУЛИН РИНАТ ХИСМАТУЛОВИЧ

Изобретатель ХАБИБУЛИН РИНАТ ХИСМАТУЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения глубины дефекта при радиографии изделий

Способ определения глубины дефекта при радиографии изделий

  ОПИСАНИЕ (ii) 458744 Союз Советских Социалистических Республик ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 12.02.73 (21) 1880647/26-25 с присоединением заявки ¹ (32) Приоритет Опубликовано 30.01.75. Бюллетень ¹ 4 Дата опубликования описания 19.03.75 (51) М Кл G 01n 23/04 G 01п 23/18 Государственный комитет Совета Министров СССР...

458744