Способ определения глубины дефекта при радиографии изделий

Способ определения глубины дефекта при радиографии изделий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ (ii) 458744

Союз Советских

Социалистических

Республик

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 12.02.73 (21) 1880647/26-25 с присоединением заявки ¹ (32) Приоритет

Опубликовано 30.01.75. Бюллетень ¹ 4

Дата опубликования описания 19.03.75 (51) М Кл G 01n 23/04

G 01п 23/18

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам иэобретеиий и открытий (53) УДК 620.179,152 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. Ф. Трубин, А. М. Тощев, М, П. Дьяков и P. Х. Хабибулин (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЫ ДЕФЕКТА

ПРИ РАДИОГРАФИИ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к,неразрушающпм методам контроля качества материалов и изделий и может использоваться для определения глубины дефекта при радиографпи изделий., Известны способы определения глубинны дефекта в материале или изделии, основанные на сравнении интенсивности почернения,радиографической пленки в участке, соответст вующем месту расположения дефекта, с интенсивностью почернения радиографической аленки дефектометра путем визуальной оценки или фотометрии. Однако если размер дефекта составляет доли миллиметра, а неправильная его форма не позволяет использовать метод фотометрирования из-за неоднородной плотности изображения его на радиографической пленке, применение известных способов становится затруднительным, а иногда невозможным.

Целью изобретения является повышение объективности и точности определения глубины дефекта, получение возможности измерения дефекта, имеющего неправильную форму и малый размер (менее 1 мм).

Для этого по предлагаемому способу радиографирование производят многократно,с последовательно уменьшающимися экспозициями до исчезновения изображения на радиографической пленке либо дефекта, либо канавки дефектометра.

В результате подбирается такая экспозиция, когда вследствие нелинейного характера

5 области недодержек характеристической кривой коэффициент контрастности изображения либо канавок дефектометра, либо дефекта на рентгенограмме равен нулю и изображение либо канавки дефектометра, либо дефекта

1о (в зависимости от их величины в направлении пучка),сливается с,фоном (исчезает).

Таким образом, если на выбранной рентгенограмьме сохранилось только изображение канавок дефектометра, можно за ключить, что

15 размер дефекта в направлении пучка меньше глубины канавки дефектометра, и наоборот.

В частном случае, прп,равенстве размеров дефекта и канавок дефектометра исчезают оба изображения.

20 Определение размера дефекта B направлении пучка, например, в металле тонкостенного цилиндра производится следующим образом.

На дефектный уч" ñòîê. цилиндра со стороны, противоположной источнику излучения, 25 устанавливают, кассету с рентгеновской плвнкой.

Внутрь цилиндра рядом с дефектным участком укладывают свинцовую пластину толщиной около 2 мм, а сверху кассету с рентгенов458744

Составитель Н. Валуев

Техред Г. Дворина

Корректор В. Брыксина

Редактор Е. Караулова

Заказ 608/16 Изд. № !068 Тираж 902 Подписное

LLHHHIIH Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, )К-35, Раушская иаб., д. 4/5

Типография, и р. С зпунов а, 2 ской пленкой и дефактометр, представляющий металлическую пластинку толщиной, равной толщине материала просвечиваемого участка, с нанесенной на ней прямоугольной каHBIBкой с определенной глу биной. Внутрь цилиндра под дефектным участком и дефектометром устанавливают источник излучения. После этого .п1роизводят серию операций просвечива ния, каждый раз с другими кассетами.

Первая экспозиция выбирается в два раза меньшей, чем экспозиция ста|ндартного режима просвечивания. Затем экспозиции выбираются в два раза меньше последующих. Количество просвечиваний, как правило, не превышает 4 — 5 раз.

Экспонирован ные пленки должны обязательно подвергаться одновременной обработке (проявление, фиксирование, промывка, сушка).

Предмет изобретения

5 Способ определения глубины дефекта,при радиографии изделий, основанный на совместном радиографирова нии изделия и дефектометра, с последующим сравнением плотности почернения изображения дефекта и канавок

10 дефектометра на .радиографической пленке, отличающийся тем, что, с,целью повышения точности определвния глубины дефектов малого размера и неправильной формы, радиографирова ние производят м ногократно с

15 последовательно уменьшающимися экспозициями до исчезновения изображения на радиографической пленке либо дефекта, либо кана в ки дефектометра.