ГОГАНОВ ДМИТРИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ
Изобретатель ГОГАНОВ ДМИТРИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Многоканальный дифрактометр
p .. О П Й С"А"- H-И Е И ЗО БРЕТ Е Н И Я Союз Советских Социалистических Республик.458747 Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено 14.02.73 (21) 1881913/26-25 (51) М. Кл. G 01п 23 20 с присоединением заявки М— Гасударственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет— Опубликовано 30.01 75. Бюлле...
458747
Многоканальный рентгеновский анализатор
О П И С А Н И Е в) 545966 ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 18.10.73 (21) 1964642/25 с присоединением заявки Ме— (23) Приоритет— (43) Опубликовано 05.02.77. Бюллетень No 5 (45) Дата опубликования описания 28.03.77 (51) М.Кл G 01 N 23/20 G 01п 23 22 Государственный комитет...
545906
Рентгеновский дифрактометр
l .я г ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ (i (1 682803 Сснгз Ссеетсйих Социалистических Реслуслик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 29.12.77 (21) 2556651/18-25 (51) М. К . G 01N 23/207 с присоединением заявки ¹ (осударстаенный комитет СССР ло делам нзабрегений и открытии (23) Приоритет Оп; блпповапо 30.08.79. Бголггстснь № 32 (53) УДК 548.73: :...
682803
Флуоресцентный рентгеновский анализатор с рентгеновским зондом
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОИ:КОМУ СВИ ТИЛЬСТЕУ Саюз Советских Социалистических Республик < >894503 (61) Дополнительное к авт. свнд-ву (22) Заявлено 270580 (21) 2922651/18-25 с присоединением заявки 89 (23) Г1рноритет Опубликовано 301281 Бюллетень й948 Дата опублмковання описания 30. 12. 81 (5ЦМ. К. G 01 N 23/223 Гвеухвуетвеяямй квинтет СССР яв дмви мзоеретений а открмтвй...
894503
Криостат для полупроводникового детектора излучения
Oll ИСАНИЕ ИЗОВЕЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистическин Республик 901704 (6! ) Дополнительное к авт, свив-ву (22) Заявлено 21.11.78 (21) 2686959/23-26 с присоеаинением заявки ЭЙ(23) Приоритет(5l jM. Кл. 17 С 3/00 F 25 0 3/10 твоударатаеииый комитет СССР ео лолам изобретений и открытий Опубликовано 30.0 1.82. Бюллетень № 4, Дата опубликования описа...
901704
Способ определения отклонения угла ориентации кристаллографических плоскостей от заданного угла относительно поверхности среза кристалла (его варианты)
1. Способ определения отклонения угла ориентации кристаллографн-г ческих плоскостей от заданного угла относительно поверхности среза кристалла, включающий облучение поверхности среза исследуемого кристалла пучком рентгеновских лучей и регистрацию отраженных от него лучей с помощью детектора, отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности и точности определения отклонения...
1052956
Газоразрядный координатно-чувствительный детектор ионизирующего излучения (его варианты)
1. Газоразрядньй координатночувствительный детектор ионизирующего излучения, содержащий герметичныйгазонаполненный корпус с электрическими выводами, внутри которого расположен анодный электрод, соединенный с электрическими выводами, включающий резистивный слой и под- . ложку, выполненную в виде нитевидного изолятора, отличающийс я тем, что, с целью повьшения точности регистрации к...
1080225
Диспергирующий элемент для рентгеноспектрального анализа элементного состава вещества
1. ДИСПЕРГИРУЮЩИЙ ЭЛЕМЕНТ ДЛЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ВЕЩЕСТВА с плоской рабочей поверхностью в плоскости дисперсии излучения, отличающийся тем, что, с целью расширения рабочего диапазона, он выполнен из набора кристаллов, линейный размер tfi каиздого из которых определяется соотношением . 2J9in c s 9 где Ъ -.расстояние между центром кристалла и источник...
1170335
Диспергирующий элемент для рентгеноспектрального анализа элементного состава вещества
СОЮЗ СОБЕТСН))Х СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН „,. 80„„12О3414 >> »> > 0) . > 2:! 2й ОПИОАЙИЕ ИЗОБРЕ(ЕНИЯ Н А ВТОРСКОМЪ" ОБИДЕ 7ЕЛЬС1В .> с. l» > — 4 2Х ГОСУДАРСТБЕННЬ(Й НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРБ)ТИЙ 121) 357905)4() 2>1-25 (72 02 06 88 (-16) 07.01.86. 17!Ол., (1> 1 ! (1 ) Д Е Н И Н Г Р (!, 1С КО(I I." I ), l i l () - i l ) ) (!;! > O 1,"i в(< но(оо ьединен...
1203414
Устройство для рентгенографического определения макронапряжений
Изобретение относится к области научного приборостроения и может использоваться для неразрушакщего троля макронапряжений в узлах и деталях машин и механизмов. Цель изобретения состоит в повьтении производительности контроля благодаря возможности и оперативности перестройки при контроле различных видов материалов . Устройство содержит штатив 12, на котором жестко закреплена база 5...
1420491
Способ определения структурных искажений приповерхностных слоев совершенного монокристалла
Изобретение относится к рентгенодифракционному анализу приповерхностных слоев совершенных кристаллов и может быть использовано для отработки технологии создания изделий микроэлектроники. Цель изобретения - повышение локальности измерений и расширение класса исследуемых кристаллов. Способ включает в себя облучение образца коллимированным в плоскости падения пучком рентгеновского из...
1599732
Устройство для контроля ориентации слитков монокристаллов
Сущность изобретения: источник электромагнитного излучения выполнен в виде контейнера 1 с отверстием 2, содержащего радиоактивный изотоп 3. Радиоактивный источник установлен в экранирующем корпусе 4, одна из стенок 5 которого по ходу излучения выполнена утолщенной и плоской для контакта с поверхностью образца б. В стенке выполнен формирователь пучка с угловой расходимостью в виде...
1768041