PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ГОНЧАР ВАСИЛИЙ СЕРГЕЕВИЧ

Изобретатель ГОНЧАР ВАСИЛИЙ СЕРГЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения толщины эпитаксиальных пленок

Способ измерения толщины эпитаксиальных пленок

  +Ü" 1ÅÑI(Äf,I : -QfbXiIL М -"иЬ.- .! )462О72 Союз Советских Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от явт. свидетельства— (22) Заявлено 19.04.73 (21) 1914930/25-28 с Ilpf(COC+f(I(e(flfeh(заявки ¹â€” (32) Приоритст— Опубликовяио 28.02.75. Бюллетень № 8 Дата оиубликоваиия описания 07.08.75 (51) М Кл G Olb 19/36.Госуд...

462072