ИВАНОВА ТАТЬЯНА АЛЕКСАНДРОВНА
Изобретатель ИВАНОВА ТАТЬЯНА АЛЕКСАНДРОВНА является автором следующих патентов:
![Панкратическая оборачивающая система Панкратическая оборачивающая система](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6141689ff1be86f983e4362b5094e092.jpg)
Панкратическая оборачивающая система
О П И С А Н И Е 0н 466477 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВйДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 16.01.73 (21) 1871678/18-10 с присоединением заявки К (23) Приоритет Опубликовано 05.04.75. Бюллетень М 13 Дата опубликования описания 03.07.75 (51) М, Кл. G 02b 15/14 Государственный комитет Совета Министров СССР по д...
466477![Ахроматический апланатический конденсор для микроскопов Ахроматический апланатический конденсор для микроскопов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/cd7bb14795e8920fcc00270d28ce5c2e.jpg)
Ахроматический апланатический конденсор для микроскопов
Союз Соеетсккх Соцкалксткческкх Ресоублкк О П И С А Н И Е ()523375 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 03.12.74 (21) 2082073, 10 (51) М.Кл. - 6 02 В 21i08 с присоединением заявки— Государствеккык комитет Совета гни ккстров СССР (23) Приоритет— (43) Опубликовано 30.07.76. Бюллетень М 28 (45) Дата опубликования описан...
523375![Панкратическая оптическая система Панкратическая оптическая система](https://img.patentdb.ru/i/200x200/81e17029daee5fc59ddfb22972138e00.jpg)
Панкратическая оптическая система
О П И -О- Ж Йгй Е ИЗОБРЕТЕНИЯ (iI) 52853l Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 17.02.75 (21) 2105229/10 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 15.09.76. Бюллетень Л" 34 Дата опубликования описания 01.11.7G (51) M. Кл."" G 02В 15/16 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и откры...
528531![Проекционный окуляр Проекционный окуляр](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d52a653ecdac258721eb6a0cd4bd21dc.jpg)
Проекционный окуляр
(11) 5Ъ9287 ОПИСАНЙЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено 03.03.75 (21) 2109378/10 с присоединением заявки М (23) Приоритет Опубликовано 15.12.76. Бюллетень ¹ 46 (51) М. Кл. - G 02В 25/00 G 02В 27/00 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53)...
539287![Панкратический объектив для измерительных приборов Панкратический объектив для измерительных приборов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a7289d4d97cae74187dd973198533449.jpg)
Панкратический объектив для измерительных приборов
г г: . C.i П1 1г б, о i. и с г е: а « Р ОП ИКАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЙТЙЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено 20.12.7 6 (211 2431068/18-10 «iI 651295 Союз Соавтсмию Социалистических Республик У (511 М. Кл у 02 В 15/14 с присоединением заявки № (23) Прнорнтет— ааударатвееай кватет СССР gl 49eeM азббРФЯФФ е айфмпе (5З) Д < 535.824. .2 (088.8) Эп...
651295![Флюс для пайки легкоплавкими припоями Флюс для пайки легкоплавкими припоями](https://img.patentdb.ru/i/200x200/337258f49aed1a312ffb1a91bc3e806a.jpg)
Флюс для пайки легкоплавкими припоями
>7О62 9 ОП ИСАНИЕ ИЗОЬРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Ce)o3 CoseTcIcNx Социалистических Республик (6I ) Дополнительное к авт. свид-ву 2 (22) Заявлено19,06.78 (21) 2629819/25-27 (51) M. Кл, В 23 К 35/362 с присоединением заявки М(23) Приоритет ГооудоротеенньФ квинтет СССР но делам кеобретеннй н откоитнй Опубликовано 30,12.79. Бюллетень М 48 (53) УДК 621.791. ,048 (088....
706219![Апохроматический объектив микроскопа Апохроматический объектив микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b270948f702831165284d7cda64055dc.jpg)
Апохроматический объектив микроскопа
(i ц 769477 Оп ИСАЙ И Е ИЗОБРЕТЕЙИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 04.09.78 (21) 2661200/18-10 с присоедине11ием заявки ¹ (23) Приоритет (43) Опубликовано 07.10.80. Бюллетень № 37 (45) Дата опубликования описания 07.10.80 (51),ч К, з G 02В 21/02 Государственный комитет СС,СР (53) УДК 535.8...
769477![Электролит блестящего кадмирования Электролит блестящего кадмирования](https://img.patentdb.ru/i/200x200/339c903115d1272611ddbb83ef009304.jpg)
Электролит блестящего кадмирования
Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6! ) Дополнительное к авт. свид-ву (22)Заявлено12.07.79 (2!) 2794749/22-02 (51)М. Кл. С 250 3/26 с присоединением заявки ¹ Госудврстввиный комитет {23) Приоритет Опубликовано 30.05.81 Бюллетень ¹ 20 Дата опубликования описания 30.05.81 (53) УД К 621.35 7.. 7: 669. 73 (088.8) по делам изобретений и открыти...
834262![Устройство для сравнения изображений Устройство для сравнения изображений](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b7b2698af3fed7d2d7d3b1a15e71185b.jpg)
Устройство для сравнения изображений
М.В. Гирина, T.À. Иванова, Е.С. Куле юва и P.М. Рагузин - . 1 ! 1 ! 1 (72) Авторы изобретения.(71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ СРАВНЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ Изобретение относится к устройствам для сравнения изображений различных объектов и может быть использовано в криминалистике, микроэлектронике и других областях науки и техники для исследования объектов методами сравнения с по...
857908![Способ приготовления сферического катализатора для очистки газов Способ приготовления сферического катализатора для очистки газов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/93a12ee631477a5d1959480d4ade58fb.jpg)
Способ приготовления сферического катализатора для очистки газов
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1 (1Ц 3603884 Союз Советских Социалистических Республик (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву (22)Заявлено 22.07.80 (21) 2961951/23-04 (5l)M. Кл. В 01 ) 37102 с присоединением заявки №Гесудщктееевй кемятет СССР ве. делам лаабретеллк н етлрытнй (23) ПриоритетОпубликовано15. 03. 83. Бюллетень ¹ 10 (53) УДК66.097..3(088.8) Дата...
1003884![Устройство для контроля центрировки и качества склеенных компонентов Устройство для контроля центрировки и качества склеенных компонентов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5edbe29c17ffd7b7130e0badbbd85e14.jpg)
Устройство для контроля центрировки и качества склеенных компонентов
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦЕНТРИРОВКИ И КАЧЕСТВА СКЛЕЕННЫХ КОМПОНЕНТОВ., содержащее осветительную систему с источником света, тест обьектом и коляиматорным объективом, .оправу l -контролируемого компонента, проекционную двухкомпонентную систему, первый компонент которой имеет возможность перемещения, и наблюдательную систему, отличающееся тем, что, с целью повышения чуьствитшьности...
1015273![Коллектор микроскопа Коллектор микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/aad23fe5e4f2dcd0d3433fb3f46aa47e.jpg)
Коллектор микроскопа
КОЛЛЕКТОР МИКРОрКаПА , соо жаший ава положительных, компокеита, nejpBiiifi яз выпоинен в випе апланатическсяго мшиска. офащенного вогнутостью к источнику света, а второй - в вице авояковыпуклой линзы, соцержащей параёоло- , иоальную пов хность, о т л и ч а щи и с я тем, что, с целью увеличения рабочего рассто$пшя, за авояковьшуклой линзой ввеаен пополнительный мениск, обращенный...
1024866![Интерферометр для измерения децентрировки оптических систем Интерферометр для измерения децентрировки оптических систем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/db9a3c405858a77ed3cd34a9787fed6a.jpg)
Интерферометр для измерения децентрировки оптических систем
1. ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕЦЕНТРИРОВКИ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ , содержащий расположенные после-, довательно источник излучения, держатель , предназначенный для закрепления измеряемой оптической системы, регистратор интерференционной картины и связанный с держателем привод, предназначенный для проворота держателя вокруг оптической оси интерферометра , отличают.и йся тем, что, с ц...
1062513![Устройство для контроля плоских оптических поверхностей Устройство для контроля плоских оптических поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5c0f7e9e9261ea874e15de3b47778a1c.jpg)
Устройство для контроля плоских оптических поверхностей
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПЛОСКИХ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ , содержащее расположенные на одной оптической оси точечный тест-объект и вогнутое сферическое зеркало, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля, оно снабжено лннзовым корректором, установленным между точечным тест-объектом н вогнутым сферическим зеркалом, выполненным в виде отрицательн...
1113670![Объектив микроскопа Объектив микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/15681e456f4c0cb28e167d96d4ed146b.jpg)
Объектив микроскопа
Изобретение может йлть-использовано для исследования особо тон кях ьд1кроскопических структур, тре бунядего высокой разрешающей способности и большой светосилы. Первый компонент фронтальной части объек тива положительный мениск 1, обращен вогнутостью к предмету. Для увеличения числовой апертуры и рабочего расстояния второй кокгпонент выполнен в виде отрицатель ного двухсклеенного...
1213460![Объектив микроскопа для люминесцентных исследований Объектив микроскопа для люминесцентных исследований](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ea036182a16c072292d9092835ad3f7f.jpg)
Объектив микроскопа для люминесцентных исследований
Изобретение относится к микроскопии и позволяет повысить светосилу и улучшить качество изображения за счет .уменьшения хроматизма увеличения. Фронтальная часть объектива, образующая мнимое изображение объекта, содерчение 40 , числовую апертуру 0,75, жит положительный мениск 1, обращенполе зрения 25 мм. 1 ил. ный вогнутостью к предмету, положительную линзу (л) 2, склеенную из отри...
1242894![Способ определения внешней удельной поверхности волокнистых материалов Способ определения внешней удельной поверхности волокнистых материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0e78e0edd53d2dc97146615f0558be5f.jpg)
Способ определения внешней удельной поверхности волокнистых материалов
Способ определения удельной поверхности волокнистых материалов относится к области целлюлозно-бумажной промышленности. Цель изобретения - повьш1ение точности измерений. Сущность изобретения заключается в том, что наряду с измерением амплитуды сигнала свободной индукции дополнительно Измеряется время релаксации протонов воды в макропорах по сигналу спинового эха. 1 ил. СОЮЗ СО...
1257487![Высокотемпературный объектив микроскопа масляной иммерсии Высокотемпературный объектив микроскопа масляной иммерсии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0fe434a990b180b680dfd0c021535aaf.jpg)
Высокотемпературный объектив микроскопа масляной иммерсии
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для наблюдения и фотографирования особо тонких биологических структур в естественном свете и в , свете их видимой люминесценции. Цель изобретения - повьштение качества изображения за счет уменьшения хроматизма , увеличения числовой апертуры 1 1 Плосность одъента , ч 5 б 1 и светосилы. Объектив содержит...
1277050![Способ приготовления ванадиевого катализатора для окисления диоксида серы Способ приготовления ванадиевого катализатора для окисления диоксида серы](https://img.patentdb.ru/i/200x200/cd5fc237ce2eba3dbaf41ca48f3a57a3.jpg)
Способ приготовления ванадиевого катализатора для окисления диоксида серы
Изобретение относится к каталитической химии, в частности к приготовлению ванадиевого катализатора (КТ) для окисления 50, который может найти применение в производстве HjS04 и переработки газов, содержащих SO-, Упрощение и сокращение длительности процесса достигается за счет ойределенной последовательности стадий приготовления КТ. Получение КТ ведут растворением соединения ванади...
1292824![Высокоапертурный ахроматический объектив микроскопа масляной иммерсии Высокоапертурный ахроматический объектив микроскопа масляной иммерсии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d9769205148b993fcfed0cd218db46f6.jpg)
Высокоапертурный ахроматический объектив микроскопа масляной иммерсии
Изобретение относится к оптическому приборостроению и м.б, использовано при создании ахроматических иммерсионных объективов микроскопов большого увеличения с.высокой апертурой . Цель изобретения - повышение информационной емкости изображения за счет увеличения разрешающей способности . Плоско-выпуклая линза 1 и мениск 2 уменьшают числовую апертуру для последующих компонентов. Мен...
1451633![Способ определения выхода целлюлозы, полученной щелочной варкой сосновой или еловой древесины Способ определения выхода целлюлозы, полученной щелочной варкой сосновой или еловой древесины](https://img.patentdb.ru/i/200x200/dcd8f478a4fab1fee07dd3887c396e9c.jpg)
Способ определения выхода целлюлозы, полученной щелочной варкой сосновой или еловой древесины
Изобретение позволяет сократить продолжительность процесса. Отбирают пробу целлюлозы и измеряют средневзвешенную длину волокна и соответствующую ей массу абсолютно сухих волокон. Выход определяют путем расчета по формуле В=64,82-4606,5<SP POS="POST">.</SP>M/ВП, где В - выход целлюлозы, % ВП - средневзвешенная длина волокна целлюлозы в исследуемой пробе, дг M - масса аб...
1509736![Ахроматический объектив микроскопа Ахроматический объектив микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3eb5c541b7c6f725f1c1d0e7f4f871f6.jpg)
Ахроматический объектив микроскопа
Изобретение относится к оптическому приборостроению может быть использовано в микроскопах для наблюдения объектов в естестенном и поляризованном свете, а также по методу фазового контраста. Цель изобретения - повышение качества изображения за счет уменьшения хроматизма увеличения и упрощение конструкции. Плосковыпуклая линза 1, положительный двусклеенный компонент 2 и отрицательны...
1578680![Способ определения деформаций образцов нитей и волокон после термообработки Способ определения деформаций образцов нитей и волокон после термообработки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0d6e009124ba0f8fa4b8393114495942.jpg)
Способ определения деформаций образцов нитей и волокон после термообработки
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения деформаций гибких тел. Цель изобретения - снижение затрат времени на определение деформаций и повышение точности измерения деформаций невытянутых нитей и волокон. Это достигается перед термообработкой обрезанием конца образца 4 по прорези 7 в линейке-шаблоне 6 для получения заданной исходной длины образ...
1585649![Способ определения интегральных значений параметров напряженно-деформационного состояния тел Способ определения интегральных значений параметров напряженно-деформационного состояния тел](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b5022edde86425a5425ab3fcc773d2ce.jpg)
Способ определения интегральных значений параметров напряженно-деформационного состояния тел
Изобретение относится к измерительной технике и позволяет расширить диапазон измерения интегральных значений параметров напряженно-деформированного состояния тел при одновременном повышении производительности способа. Способ включает размещение на поверхности тела покрытия из изменяющегося под действием циклического механического деформирования свои микроструктурные характеристик...
1629746