ГОРШКОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСЕЕВИЧ
Изобретатель ГОРШКОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ автоколлимационного контроля вогнутых оптических поверхностей Способ автоколлимационного контроля вогнутых оптических поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/317376b795da02a8ea213fe2b740f39b.jpg)
Способ автоколлимационного контроля вогнутых оптических поверхностей
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1 11 48 09 04 Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 13.10.72 (21) 1836693/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 15.08.75. Бюллетень № 30 Дата опубликования описания 23.10.75 (51) М. Кл. G 01Ъ 11/24 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам...
480904![Интерференционный способ контроля формы вогнутых асферических оптических поверхностей Интерференционный способ контроля формы вогнутых асферических оптических поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0fe7efe01e5e391abe93b93def378886.jpg)
Интерференционный способ контроля формы вогнутых асферических оптических поверхностей
ОПИСАНИ Е ИЗОБРЕТЕН ИЯ р) 544864 Сава Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.03.74 (21) 2004923/28 (51) М К| G 01В 11!24 G 01В 9/02 с присоединением заявки ¹ Государственный комитет (23) Приоритет Совета Министров СССР ло делам изобретений и открытий (53) УДК 531.715.1 (088.8) Опубликовано 30.01.77....
544864![Способ определения радиуса кривизны вогнутых поверхностей Способ определения радиуса кривизны вогнутых поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/dc7efa6614e56ca0b67d90de262bf7bb.jpg)
Способ определения радиуса кривизны вогнутых поверхностей
Союз Советских Социалистических Республик (11) 567947 (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено0д.10 74 121) 2065082/23 с присоединением заявки №(51) М. Кл. Q 01 В 11/24 (23) Приоритетt (43) Опублнковано05.08,77 Бюллетень № 29 Государственный иомитет Совета Министров СССР оо делам иеооретений и открытий (53) УДК 531,715,1 (088.8) (45) Дата опубликования описания 22 09,7...
567947![Способ контроля формы выпуклой гиперболической поверхности оптической детали Способ контроля формы выпуклой гиперболической поверхности оптической детали](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0d7517ac0a634ddf57da754f4a3d3247.jpg)
Способ контроля формы выпуклой гиперболической поверхности оптической детали
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ (11)57 1698 Союз Советских Социалистических Республик 1 (61) Дополнительное к авт. свид-ву «« (22) Заявлено 06.09.74(21) 2058584/10 (51) М. Кл. Я 01 В 11/00 с присоединением заявки №-(23) ПриоритетГосударственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и атирытий (43) Опубликовано 05.09.77.Бюллетень № 8Э, (53) УДК .2(088.8) (45) Дата опублик...
571698![Устройство для контроля формы вогнутых асферических поверхностей Устройство для контроля формы вогнутых асферических поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/48af9df07414db53fb9ad3173536f454.jpg)
Устройство для контроля формы вогнутых асферических поверхностей
Союз Советских Социалистических Республнк К АВТОРСКОМУ СВИДБТВЛЬСТВУ (6l) Дополнительное к авт. свил-ву(22) Заявлено 01.06.74 (2е) 203907 1/23-25 G 01 В 8!02 с присоединением заявки № (23) Приоритет Государственный квинтет СССР оо делам нзобретеннй и открытий Опубликовапо15.04.79,бюллетень № 14 Дата Опубликования описания 18 04 79 (оз) УПК531.715.2 (088,8) (72) Авторы изобр...
657240![Устройство для контроля вогнутых отражающих поверхностей изделий Устройство для контроля вогнутых отражающих поверхностей изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a533f289e9cc8fb3bcc2b606a95a6ea8.jpg)
Устройство для контроля вогнутых отражающих поверхностей изделий
ОП ИСАЙИ ИЗОБРЕТЕНИЯ с It: ря 6584О4 Союз Coeefcêél Сециалнстичесиик республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 270673 (21) 1937867/25-28 с присоединением заявки ¹ {23) Приоритет— (И) М. Кл. 501 В 11/26 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 531.717-2 (088.8) Опубликовано 2504,79-Бюллетень № 15 Дат...
658404![Диафрагма для кнтроля оптических деталей, диаметром свыше 1000 мм Диафрагма для кнтроля оптических деталей, диаметром свыше 1000 мм](https://img.patentdb.ru/i/200x200/064b2bfd7d046c965965f9d44bec2b98.jpg)
Диафрагма для кнтроля оптических деталей, диаметром свыше 1000 мм
Союз Советскик Социалистическик Республик 678275 К АВТОРСКОМУ СВИДВТИЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (5l) М. Кл G 01 В 11/24 (22) Заявлено 24.10,77 (2l ) 2537823/18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 05.08.79, бюллетень №29 Дата опубликования описания 05.08.79 Госудеоотеенный комитет СССР ое делам нэебретеннй и аткомтнй (53) УДК 53,085.345 (0...
678275![Автоколлимационный способ контроля формы вогнутых асферических поверхностей крупногабаритных оптических деталей Автоколлимационный способ контроля формы вогнутых асферических поверхностей крупногабаритных оптических деталей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/436aadb53a2618760b830bafb9702648.jpg)
Автоколлимационный способ контроля формы вогнутых асферических поверхностей крупногабаритных оптических деталей
O ll H C A H И Е (п)911150 ИЗО6РЕТЕН ИЯ Союз Советскнк Соцналнстнчесинк Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6I ) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлемо 29. 07. 74 (21:) 2049561/25-23 (5! )М. Кд. G 01 В 11/24 с присоединением заявки М (23) Приоритет )оаударетееииый кеиитет СССР 00 делен изебретений и аткрнтий Опубликовано 07.03.82. Бюллетень е1е 9 Дата опубликования...
911150![Способ контроля формы поверхности крупногабаритных оптических деталей на неравноплечем лазерном интерферометре Способ контроля формы поверхности крупногабаритных оптических деталей на неравноплечем лазерном интерферометре](https://img.patentdb.ru/i/200x200/39933affa2f468dd49a3d65851e22bf7.jpg)
Способ контроля формы поверхности крупногабаритных оптических деталей на неравноплечем лазерном интерферометре
Союз Советсиик Социапистичесник Респубпни ОЛ ИСАНИЕ И 306РЕТЕН ИЯ К А9ТОРСКО МУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ где Л вЂ” длина волны излучения используемого лазера) . По направлению скачков интерференционных полос: определяют знак контролируемой ошибки. Лучи света, отраженные от точек контролируемой поверхности, оптически сопряженных с точками одной и той же интерферен— ционной полосы,...
935704![Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей линз большого диаметра Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей линз большого диаметра](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ebde39372bfa0f12c179a0a5e3ade4ff.jpg)
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей линз большого диаметра
О П И С А Н И Е щ945642 ИЗОБРЕТЕНИЯ Х АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Cases Соватскик Соцкалкстнческнк Республик (63) Дополнительное к авт. санд-ву (5! )М. Кл . G 01 В 9/02 (22) ЗаЯвлено 09.07.80 (2l ) 2952780/2528 с присоединением заявки И(23) Приоритет 3Ъвуаерствиеый комнтет CCCP ае аннам нзебратеннй н етнрытнй Опубликовано 23.07.82. Бюллетень № 27 Дата опубликования описания...
945642![Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей крупногабаритных линз Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей крупногабаритных линз](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0669c176d4cb3e7f45dd41f2d66d3b51.jpg)
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей крупногабаритных линз
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДИТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистическик Республик «i)977942 (6l ) Дополнительное к авт. саид-ву (53)M. Кл. (22) ЗаЯвлеио 30.06.81 (21) 3311135/25-28 с присоединением заявки М (23)Приоритет . Опубликовано 30.11,82. Бюллетень М 44 Дата опубликования описания 30.11.82 O 01 Ь 9/02. G01 6 11/24 9вударожины6 комитет СССР ио «евам изоб...
977942![Устройство для контроля центрировки линз объектива Устройство для контроля центрировки линз объектива](https://img.patentdb.ru/i/200x200/98da16043c83e713275f3ca82c3da166.jpg)
Устройство для контроля центрировки линз объектива
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦЕНТРИРОВКИ линз ОБЪЕКТИВА, содержащее осветительную систему, расяолрженные по ходу лучей наклонное зер ВйЛО| .систему оптических эпеиентов для формирования изображений источника света в пенграх кривизны каждой из поверхностей контролируемого ©йьекта и , регистратор, о т л и ч a ю ш е е с я . тем, что, с целью повышенка точности, осветительная система вьшо...
1015274![Способ корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента для изготовления оптической детали Способ корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента для изготовления оптической детали](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0a68ac03e1468269072575d291adf681.jpg)
Способ корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента для изготовления оптической детали
СПОСОБ КОРРЕКТИРУЮЩЕЙ ОБРАБОТКИ РАБОЧЕЙ ПОВЕРХНОСТИ ИНСТРУМЕНТА ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ДЕТАЛИ, согласно кото тах рому инструментом поэтапно обрабатывают поверхность детали, создают интерференционную картину от поверхности детали, регистрируют отклонение интерференционных полос и с учетом полученных данных дорабатывают участки поверхности инструмента до исчезновения отклонени...
1057257![Интерферометр для контроля формы выпуклых поверхностей линз большого диаметра Интерферометр для контроля формы выпуклых поверхностей линз большого диаметра](https://img.patentdb.ru/i/200x200/fef58fdfbf26d5fe9272e765471b7b81.jpg)
Интерферометр для контроля формы выпуклых поверхностей линз большого диаметра
ИНТЕРФЕЮМЕТР ДЛЯ КОНТЮЛЯ ФОРМЫ ВЫПУКЛЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ЛИНЗ БОЛЬШОГО ДИАМЕТРА, содержащий осветитель , компенсатор, устанавливаемый со стороны неконтролируемой поверхности линзы, жидкостную линзу, предназначенную для заполнения пространства между компенсаторм и неконтролируемой поверхностью линзы, и регистратор интерференционной картины, оптически сопряженный с осветителем, отличаю...
1059418![Фотоэлектрический интерферометр для контроля формы поверхности оптических деталей Фотоэлектрический интерферометр для контроля формы поверхности оптических деталей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ce38f76504c2608cad4603bd6856c034.jpg)
Фотоэлектрический интерферометр для контроля формы поверхности оптических деталей
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ПО- ВЕРХНОСТИ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ, содержащий лазерный источник света, распО7(оженные последовательно по ходу его лучей телескопическую систему , первый светоделитель выполненный в виде плоскопараллельной , пластины, и объектив, расположенные последовательно в обратном ходе лучей за первым светоделителем второй светоделитель, узел...
1062519![Устройство для контроля углов отклонения прямоугольной призмы Устройство для контроля углов отклонения прямоугольной призмы](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5698d5386d7576d105d56c476150d9c0.jpg)
Устройство для контроля углов отклонения прямоугольной призмы
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ УГЛОВ ОТКЛОНЕНИЯ ПРЯМОУГОЛЬНОЙ ПРИЗМЫ , содержащее осветитель, столик, предназначенный для установки контролируемой призмы, и регистратор, оптически сопряженный с осветителем, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона койтролируемых параметров, оно снабжено светоделителем, установленнымза осветителем, плоским двухсторонним зеркалом, вьшолненным с...
1116312![Опора крупногабаритного облегченного зеркала Опора крупногабаритного облегченного зеркала](https://img.patentdb.ru/i/200x200/487b6e21073447cf5ca3d3c4d85f8db0.jpg)
Опора крупногабаритного облегченного зеркала
СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН 0% (И) gg 4 В 24 В 13/005 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3833746/25-08 (22) 25.12.84 (46) -15.03.86. Бюл. Р 10 (72) Н.Г.Корнеев, В.А.Горшков, А.А.Леонтьев и В.Б.Корженевский (53) 621.923.5(088.8) (56) Оптико-механическая промышленность. 1983, У 1.1,...
1217632![Способ контроля формы поверхности оптических деталей Способ контроля формы поверхности оптических деталей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e899786f8111faf0ea9d038404c76c2f.jpg)
Способ контроля формы поверхности оптических деталей
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в фотоэлектрических интерферометрах при автоматизированном контроле формы поверхности оптических деталей . Целью изобретения является повьшение точности контроля. Пучок света направляют на контролируемую поверхность 16. Отраженный пучок света интерферирует в интерферометре 1 с , опорным пучком, который измеря...
1231408![Интерферометр для контроля формы плоских поверхностей оптических деталей Интерферометр для контроля формы плоских поверхностей оптических деталей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/302f617945dd2fac3623265459ae1ed3.jpg)
Интерферометр для контроля формы плоских поверхностей оптических деталей
Изобретение позволяет повысить точность контроля путем снижения чувствительности интерферометра к вибрациям ,и исключения внеосевого падения лучей света на сферическое зеркало. Интерферометр содержит основание, размещенные на нем установочное пр;и- ; способление, предназначенное Для за-- крепления и юстировки контролируемой детали, оптически связанные освети- ; тельную систему, с...
1239515![Способ измерения углов,образуемых тремя гранями призмы,и устройство для его осуществления Способ измерения углов,образуемых тремя гранями призмы,и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/66b8fa69b4d422a721e781f9517a9e61.jpg)
Способ измерения углов,образуемых тремя гранями призмы,и устройство для его осуществления
Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения и допускового контроля погрешностей изготовления углов и пирамидальности призм.. Целью изобретения является повышение точности и производительности измерений, а также их автоматизапия. Поток излучения от осветительной системы, прошедший через диафрагму и полупрозрачное покрытие светоделителя, колли...
1250848![Пьезоэлектрический модулятор светового луча Пьезоэлектрический модулятор светового луча](https://img.patentdb.ru/i/200x200/82485941c8e907a35c039445c40979f3.jpg)
Пьезоэлектрический модулятор светового луча
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для осуществления прецизионных линейных перемещений в оптических устройствах. Цель изобретения - повышение точности плоскопараллельного перемещения. В цилиндрическом корпусе 1 по периметру закреплены плоские упругие мембраны 3 и 4 с кoнцeнfpичнo размещенными на них с обеих сторон кольцевыми пьезопреобра...
1273862![Способ формообразования поверхностей оптических деталей Способ формообразования поверхностей оптических деталей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c2c3c0999c2bd74301ae500b21f96714.jpg)
Способ формообразования поверхностей оптических деталей
Изобретение касается технологии обработки оптических деталей и может быть использовано при формообразовании высокоточных крупногабаритных оптических noaepxHocTeii. Цель изобретения состоит в повышении точности и производительности формообразования оптических поверхностей. По топографической карте отклонений обрабатываемой поверхности определяют необходимый припуск на обработку на...
1324829![Интерферометр для контроля формы плоской поверхности оптической детали Интерферометр для контроля формы плоской поверхности оптической детали](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d7c4c22f7f02c0cfc0d660faa4eb3192.jpg)
Интерферометр для контроля формы плоской поверхности оптической детали
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля форьй плоской поверхности крупногабаритных оптических деталей. Цель изобретения - обеспечение контроля всей площади поверхности и повьшгение точности контроля за счет СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН (50 4 G 01 В 11/24 9/02 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Г ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ll0 ДЕЛАМ ИЗОБ...
1368626![Компенсатор для контроля формы поверхности астрономических зеркал телескопов Компенсатор для контроля формы поверхности астрономических зеркал телескопов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/abd16e616467fd165f1aed6b2db46e79.jpg)
Компенсатор для контроля формы поверхности астрономических зеркал телескопов
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля формы поверхности вогнутых асферических зеркал крупных телескопов интерференционным методом. Цель изобретения - расширение диапазона параметров контролируемых поверхностей . Компенсатор содержит последовательно установленные на одной оси афокальный мениск 1, положительный мениск 2 и двояковыпуклую линзу 3....
1397724![Способ исследования сопротивления стекол оптических деталей истиранию при полировании Способ исследования сопротивления стекол оптических деталей истиранию при полировании](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b36f271cae6597e389814ecb23042cef.jpg)
Способ исследования сопротивления стекол оптических деталей истиранию при полировании
Изобретение относится к области обработки оптических деталей и может быть использовано при автоматизированном формообразовании высокоточных крупногабаритных оптических поверхностей . Цель изобретения - повышение точности и производительности определения технологической постоянной и получения ее абсолютного значения в линейной мере, не зависящего от параметров настройки станка и р...
1458173