ОЛЕЙНИКОВ АНАТОЛИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретатель ОЛЕЙНИКОВ АНАТОЛИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:
Способ поляризации пьезокерамических элементов
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социзлмстичесиих Республик (11) 492997 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено43 03.74 (21) 2009082/26-9 (51) М. Кл Н 03 k 3/02 с присоединением заявки Государствеваый аоматет Совета Ммаастров СССР во делам ызобретевв1 в отмрытай (23) Приоритет (43) Опубликовано25,И;75 Бюллетень № 43 (45) Дата опубликова...
492997Способ изготовления керамических пьезоэлементов
О П Е ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социапистимеских Респубпик (») 501462 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 13,03.74(21) 2005324/26-21 с присоединением заявки №(23) Приоритет— (43) Опубликовано 30.01,76,Бюллетень ¹ 4 (45) Дата опубликования описания 10.10.76 (51) N. Кл. Н 03Н 3/02 Н 04 31/00 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и...
501462Способ поляризации пьезокерамических элементов
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советскик Социалистнческнк Республик
792533Способ изготовления пъезокерами-ческих элементов
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союэ Советскик Социалистических Республик с присоединением заввкн È9 С 04 В 35/00 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий {23) Приоритет «« С)публнковано 2 30 4 8 ), Бюллетень Ио у 5 ($$) 7@$666 ° 655 (088.8) Дата опубликования описания 230481 (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПЬЕЗОКЕРАМИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ Однако неоднородность исходного синтези...
823348Измерительное устройство для растрового электронного микроскопа
Союз Советск ив Социаяистическии Рееттублни ОП ИСАКИИ ИЗОВРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ щ983821 (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22)За"влено 28.05.81 (21) 3295190/18-2! с ирисоедииеинект заявки М (23)Приоритет (51)М. Кл. Н 01 J 37/28 9мудвретакикы!! кемитвт СССР ав делан «зовретеии% н открытки Ояубликовано 23.12.82. Бюллетень М 47 (53) УДК 621..385.833 (088.8) Дата...
983821Способ формирования изображения микроструктуры металл- диэлектрика в растровом электронном микроскопе
Изобретение относится к област измерительной техники, в частности к способам получения изображения микроструктуры Поверхности диэлектриков с нанесенным проводящим покр тием и может быть использовано, нап ример, при .производстве и совершенствовании растровых электронных микроскопов . Цель изобретения - повышение чувствительности путем использования в качестве формирующего импульс...
1200176Способ контроля качества оптически прозрачных пластин и устройство для его осуществления
Изобретение относиться к способам изготовления приборов электронной техники из монокристаллов и может быть использовано при производстве полупроводниковых приборов, монокристаллов , стекла, керамики и изделий, изготовленных на их основе. Цель изобретения - повышение точности контроля качества оптически прозрачных пластин. Кристаллические элементы облучают поляризованным светом и...
1320667Устройство для контроля поверхностей детали
Изобретение относится к измерительной технике и используется при изготовлении кристаллических элементов. Целью изобретения является расширение номенклатуры контролируемых поверхностей. Направляют излучение от источника 1 через поляризатор 2, щелевую диафрагму 7 и положительную линзу 6 на торцы детали 5, между поверхностями которой происходит многократное отражение излучения. На вы...
1601511