ПАВЛЕНКО ПАВЕЛ АЛЕКСЕЕВИЧ

  Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1 (61) Дополнительное к авт. свид-ву, (22) Заявлено21 06 74 (21) 2035782/26-25 (51) М. Кл2 НО1Э 37/26 с присоединением заявки № (23) Приоритет Государственный кометет Совета Мнннстроа СССР во делам нэооретеннй и отйрытнй (43) Опубликовано|25.02.76.Бюллетень ¹ 7 (53) УДК 621.385,833 (088.8) (45) Дата опубл...

  П. A. ?1авлэнко, М. Д. Давиденко, В. К.,"О:тапов и Г. Д. Кисель / (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) YCTPOACTBO ДЛЯ ОБРАБОТКИ ВИДЕОСИГНАЛА В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ Изобретение относится к системам визуализации. иэображений в растровых электронных микроскопах (РЭМ). Известны устройства для обрабогкн видеосигнала в РЭМ, которые содержат 5 детектор, тракт у...

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (iii942189 (6 l ) Допол н и тел ьное к а вт. с вид- ву (22) Заявлено 17.1 L.80.(2I ) 3004432/4.8-2l 4 с присоединением заявки ¹ (23) Нриоритет Опубликовано 07.07.82,Бюллетень №25 Дата опубликования описания 09,07.82. (51)М. Кл. Н ОМ 37/23. 1Ъеударетиннмй квинтет CCCP ае делам кз...

  УСТРОЙСТВО ОТСЧЕТА И РЕГУЛИРОВКИ УВЕЛИЧЕНИЯ В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ, содержащее соединенный с отклоняющей системой: канал.формирования разверток, включающий задающий генератор, регулятор увеличения и усилитель тока развертки , канал фокусировки электронного зонда, включающий соединенный с формирующей линзой стабилизатор тока,, вычислительный канал, вклю-г чающий аналог...

  Изобретение относится к электронно-зондовым приборам для исследования микроструктур, в частности к электронно-зондовой технике неразрушающего контроля приповерхностных слоев полупроводников микроструктур, и предназначено для визуализации термоупругих неоднородностей в образце . Цель - повышение точности контроля при термоакустической дефектоскопии . Устройство содержит электронно...

  Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к ионно-оптическим приборам для локального микроанализа методом масс-спектрометрии вторичных ионов, и может быть использовано для химического или изотопного анализа состава вещества, получения увеличенных изображений поверхности твердых тел в ионах выбранного типа, а также в технологии производства полупроводниковых мат...

  Изобретение относится к электроннозондовым методам определения кристаллографических параметров материалов и структур с использованием структурного контраста при каналировании электронов. Цель изобретения - усиление структурного контраста. Для этого на образец подают потенциал с величиной, обеспечивающей изменение брэгговского угла на величину, не меньшую угловой полуширины линии...