PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Сеношенко О.В.

Изобретатель Сеношенко О.В. является автором следующих патентов:

Способ определения характеристик варизонных полупроводниковых структур

Способ определения характеристик варизонных полупроводниковых структур

 Способ определения характеристик варизонных полупроводниковых структур, основанный на измерении отраженного света, отличающийся тем, что, с целью проведения неразрушающего контроля распределения ширины запрещенной зоны по толщине структуры, производят спектральные измерения дифференциальных изменений сдвига фаз при -модуляции светового луча.

513562