PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ПАСЕЧНИК ВАЛЕРИЙ ИВАНОВИЧ

Изобретатель ПАСЕЧНИК ВАЛЕРИЙ ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для фиксации заданных положений исполнительного органа

Устройство для фиксации заданных положений исполнительного органа

  (11) 521465 союз созозазнз g) ji"" ó 14 фзз зтз ЕзЕ ЕзЕ g Социалистически:т (61) ДОПОЛНИТОЛЬНОО К ЯВт. з.ВИЛ:ВУ " (51) М (л 2 Г 16 В 1/04 (2 .з) Заявлено22.04.74 (21) 2017943/27 о присоединением заявки №вЂ” (23) Гтриоритет (43) Опубликонано1 5.07,76. Бюллвтбнь ¹26 (45) Дата опуаликованин описания 21.08.76 ГОЦзЕЕРЕтеЕНИЕИ КЕИЯТЕт Яееете Иикестрее ИР пе дееем аеебретеняе и от...

521405

Устройство для сортировки микросхемпо электрическим параметрам

Устройство для сортировки микросхемпо электрическим параметрам

  Изобретение относится к произ- •водству изделий электронной техникии может^быть использовано для сортировки микросхем в плоских корпусах с двухрядным симметричным расположением выводов по электри.ческим параметрам. Целью изобретения является упрощение конструкции и повышение производительности. Устройство содержит питатель 1, приемный лоток в виде двух параллельных планок 2 и 3, к...

828268

Устройство для подачи микросхем,преимущественно в установках для сортировки по электрическим параметрам

Устройство для подачи микросхем,преимущественно в установках для сортировки по электрическим параметрам

  Изобретение относится к микроэлектронике , в частности к производству микросхем. Цель изобретения.- расширение функциональных возможностей . Микросхемы 17 предварительно нагреваются нагревателем 3 и поэлементно подаются на позицию контроля параметров. Нагреватель 6 доводит температуру микросхемы 17 до заданного значения, а посредством контактных элементов 13 осуществляют контроль...

1241540

Способ контроля электрических параметров микросхем

Способ контроля электрических параметров микросхем

  Изобретение касается контроля электрических параметров микросхем. Цель изобретения - повышение производительности и достоверности контроля . На одну сторону корпуса испытуемой микросхемы подают тепловой поток от источника с температурой порядка 150°С. Контролируют температуру противоположной поверхности корпуса и по достижении ею заданного значения , например 95 С, прекра...

1465835

Устройство для измерения натяжения магнитной ленты

Устройство для измерения натяжения магнитной ленты

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении натяжения магнитной ленты. Целью изобретения является повышение точности измерений. Цель достигается тем, что в устройство введена шарнирная опора, закрепленная в корпусе 1. При этом ось шарнира направлена параллельно продольной оси шупов 5,6 и касательно к внутренней поверхности неподвижных шупо...

1476334


Контактное устройство для контроля интегральных схем со ступенчатыми выводами

Контактное устройство для контроля интегральных схем со ступенчатыми выводами

  Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано для подключения интегральных схем в корпуса типа DIP, имеющих ступенчатую форму вывода. Целью изобретения является повышение надежности контактирования путем взаимодействия контакта со ступенькой на выводе контролируемой схемы. Интегральную схему 5 загружают в контактное устройство по направляющим 10, 11. В исходном со...

1559441