РАФИКОВ РАФИК АБДУРАХИМОВИЧ
Изобретатель РАФИКОВ РАФИК АБДУРАХИМОВИЧ является автором следующих патентов:
Интерферометр радиального сдвига
Своз Советских Социалистицеских Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.08,73(21) 1952459/28 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 05,11.76Бюллетень № 41 (45) Дата опубликования опнсания17.01.77 (11) gg@gg@ (51) М. Кл,з 6 01 В 9/02 б 01 В ll/24 Государстаенный камнтет Сонета Миннстра...
534644Способ настройки устройства для контроля оптических поверхностей
(ii 729437 Союз Советских Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22)Заявлено21.03.77(21) 2465364/25-28 с присоединением заявки .% (23) Приоритет Опубликовано 25.04.80. Бюллетень< )ф 15 Дата опубликования описания 30.04.80 (5! )М. Кд. ()01 В 9/021 Гесудерстеенный квинтет до денем нзабретеннй н втхрытн...
729437Устройство для контроля асферических поверхностей
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛяАСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ, содержащее последовательно расположенные монохроматический источник света, коллиматор и светоделитель, делящий световой поток на две ветви, зеркало, установленное в одной ветви, голограммный компенсатор, установленный в.другой ветви, и регистрирующий блок, отличающееся тем, что, с целью контроля неосесимметричных поверхностей, пре...
1017923Способ изготовления рельефных голограмм со ступенчатым профилем полос
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ РЕЛЬЕФНЫХ ГОЛОГРАММ СО СТУПЕНЧАТЫМ ПРОФИЛЕМ ПОЛОС, заключающийся в том. что на подложку наносят рабочий и защитный слои, а затем формируют рельеф путем избирательного удаления слоев, наносят следующий защитный слой и операции избирательного удаления слоев и нанесения следующего защитного слоя последовательно повторяют до достижения требуемого числа уровней рел...
1141373Устройство для измерения радиусов кривизны оптических поверхностей
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения радиусов кривизны оптических поверхностей. Целью , изобретения является повышение точности контроля радиусов кривизны оптических поверхностей за счет повы- .шенйя точности продольной фокусиров f ки. Параллельный пучок лучей осве- .тителя 1 направляется на диафрагму 2, которая вьщеляет два пучка...
1421990Устройство для контроля поверхностей
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к контрольно-измерительным приборам с галограммными элементами, и может быть использовано в оптическом приборостроении при изготовлении и аттестации сферических поверхностей оптических элементов. Цель изобретения - повышение точности контроля и расширение количества одновременно контролируемых параметров. Пучок света прох...
1770738