PatentDB.ru — поиск по патентным документам

РАФИКОВ РАФИК АБДУРАХИМОВИЧ

Изобретатель РАФИКОВ РАФИК АБДУРАХИМОВИЧ является автором следующих патентов:

Интерферометр радиального сдвига

Интерферометр радиального сдвига

  Своз Советских Социалистицеских Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.08,73(21) 1952459/28 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 05,11.76Бюллетень № 41 (45) Дата опубликования опнсания17.01.77 (11) gg@gg@ (51) М. Кл,з 6 01 В 9/02 б 01 В ll/24 Государстаенный камнтет Сонета Миннстра...

534644

Способ настройки устройства для контроля оптических поверхностей

Способ настройки устройства для контроля оптических поверхностей

  (ii 729437 Союз Советских Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22)Заявлено21.03.77(21) 2465364/25-28 с присоединением заявки .% (23) Приоритет Опубликовано 25.04.80. Бюллетень< )ф 15 Дата опубликования описания 30.04.80 (5! )М. Кд. ()01 В 9/021 Гесудерстеенный квинтет до денем нзабретеннй н втхрытн...

729437

Устройство для контроля асферических поверхностей

Устройство для контроля асферических поверхностей

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛяАСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ, содержащее последовательно расположенные монохроматический источник света, коллиматор и светоделитель, делящий световой поток на две ветви, зеркало, установленное в одной ветви, голограммный компенсатор, установленный в.другой ветви, и регистрирующий блок, отличающееся тем, что, с целью контроля неосесимметричных поверхностей, пре...

1017923

Способ изготовления рельефных голограмм со ступенчатым профилем полос

Способ изготовления рельефных голограмм со ступенчатым профилем полос

  СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ РЕЛЬЕФНЫХ ГОЛОГРАММ СО СТУПЕНЧАТЫМ ПРОФИЛЕМ ПОЛОС, заключающийся в том. что на подложку наносят рабочий и защитный слои, а затем формируют рельеф путем избирательного удаления слоев, наносят следующий защитный слой и операции избирательного удаления слоев и нанесения следующего защитного слоя последовательно повторяют до достижения требуемого числа уровней рел...

1141373

Устройство для измерения радиусов кривизны оптических поверхностей

Устройство для измерения радиусов кривизны оптических поверхностей

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения радиусов кривизны оптических поверхностей. Целью , изобретения является повышение точности контроля радиусов кривизны оптических поверхностей за счет повы- .шенйя точности продольной фокусиров f ки. Параллельный пучок лучей осве- .тителя 1 направляется на диафрагму 2, которая вьщеляет два пучка...

1421990


Устройство для контроля поверхностей

Устройство для контроля поверхностей

  Изобретение относится к измерительной технике, в частности к контрольно-измерительным приборам с галограммными элементами, и может быть использовано в оптическом приборостроении при изготовлении и аттестации сферических поверхностей оптических элементов. Цель изобретения - повышение точности контроля и расширение количества одновременно контролируемых параметров. Пучок света прох...

1770738